安装高分辨透射电子显微镜分辨率需要多大面积

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2017-07-06 03:16 标签： 高分辨透射电子显微镜
200kV高分辨透射电子显微镜 | 海南大学 | Hainan University
&& 200kV高分辨透射电子显微镜
200kV高分辨透射电子显微镜
分析测试中心 ]
仪器型号: JEM 2100
生产厂家: 日本光学电子（JOEL）
仪器介绍: JEM 2100是一台具有多功能200kV高分辨透射电子显微镜。它以其可将各种透射电镜技术、能谱和电子衍射技术等方便灵活地有机组合，具有强大的分析功能。
主要附件：
? CCD相机；
? 超声切割装置；
? 打磨装置；&&
? 凹坑装置；
? 离子减薄装置；&&
? 单倾、双倾样品台；(±30度)
? 高温双倾样品台；&&(1000摄氏度；±30度)
? 点分辨率：0.23 nm
? 晶格分辨率：0.14 nm
? 放大倍数准确性：10%
? 样品最大倾角：±30度
技术特点:&&
1. 高性能的透射电子成像、原子尺度分析；
2. 综合性能强，TEM、电子衍射、EDS ；
3. 强样品穿透能力&&
4. 稳定的聚焦、高压、能量色散、束斑、对中；&&
应用范围: 主要用于无机材料的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，以及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体、高分子、陶瓷、纳米材料等。
应用实例：
? 普通透射（形貌观察）；
? 高分辨透射：相组织的观察（形貌观察）；
? 选区电子衍射（晶体结构分析）晶体结构；
? 微区化学元素成分半定量和定量分析。
样品要求：
? 样品可以是粉末；
? 样品可以是制备好的超薄块状；
? 样品必须是稳定的，在电子轰击下不发生变化。
存放地点：分析测试中心一楼电镜区（东）101室
管理人员：王桂振、万耿平
联系电话：2
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该文发表于
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透射电镜分析
一、JEM-2100F场发射透射电子显微镜&　　仪器参数：&　　超高分辨极靴 (UHR)&　　点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.14nm&　　STEM (HAADF)分辨率：0.20nm&　　最小束斑：0.2nm&　　样品杆最大倾斜角 (X、Y):& ±25°&　　Oxford能谱仪 (EDS)　　　　能量分辨率：~130eV (MnK线)　　　　　　　　　　　　　　　元素范围：5B ~ 92U&　　设备功能：&　　主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究，仪器的功能包括：&　　电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射&　　成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像 (明场像、环状暗场像)&　　微区成分：EDS能谱的点、线和面分析&　　原位表征：温场下的结构演变 (加热样品杆附件：室温~1000°C)&　　应用范围&　　材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料&　　表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布&　　　　　　　晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成&　　　　　　　结构相变原位研究　　联系方式：　　联系人：张琳琳　　地址：上海市定西路1295号3号楼105室　　电话：021-　　邮件：二、JEM-kV透射电子显微镜　　仪器参数:　　加速电压：60~120kV可调　　点分辨率：0.38nm；线分辨率：0.20nm　　样品最大倾斜角：?25?　　Oxford能谱仪 (EDS)：80mm2探头；5B~92U；能量分辨率：127eV (Mn K?线)　　三维重构：样品杆最大倾角?70?；三维重构软件包　　设备功能:　　主要用于无机、有机和生物材料的形貌和组成分析，仪器的功能包括：　　电子衍射、形貌像、组成的EDS能谱分析、形貌的三维重构　　应用范围:　　材料范围：除强磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；有机和生物材料　　表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、化学组成、三维重构等　　联系方式：　　联系人：姚鹤良　　地址：上海市定西路1295号3号楼104室　　电话：021-　　邮件：三、FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜　　仪器参数：　　加速电压：200kV　　高分辨极靴 (S-TWIN)　　点分辨率：0.24nm；线分辨率：0.14nm　　STEM (HAADF)分辨率：0.19nm　　电子束能量色散：&0.7eV　　最大束流：&100nA；1nm束斑最大束流：&0.5nA　　样品最大倾斜角：?40?　　EELS (Gatan Enfina)能量分辨率：0.7eV　　EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U；能量分辨率：~130eV (Mn K?线)　　设备功能：　　主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括：　　电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射　　成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像（明场像、环状暗场像、Z-衬度像）　　微区成分：EELS和EDS能谱的点、线和面分析　　应用范围：　　材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料　　表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等　　联系方式：　　联系人：张琳琳　　地址：上海市定西路1295号3号楼105室　　电话：021-　　邮件：
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JEM-2100高分辨透射电子显微镜的使用注意事项
优质期刊推荐The principle and applications of high-resolutionscanning electron microscopyJIA Zhi-HongDING Li-Peng Chen Hou-Wen(College of Materials Science and Engineering,Chongqing University,Chongqing 400044,China)1引言近20年来,随着电子显微技术的不断发展,高分辨扫描透射电子显微术(STEM)已经成为目前最为流行和广泛应用的电子显微表征手段和测试方法。相比于传统的高分辨相位衬度成像技术,高分辨扫描透射电子显微镜可提供具有更高分辨率、对化学成分敏感以及可直接解释的图像,因而被广泛应用于从原子尺度研究材料的微观结构及成分。其中高角环形暗场像(HAADF-STEM,Z衬度像)为非相干高分辨像,图像衬度不会随着样品的厚度及物镜的聚焦的改变而发生明显的变化,像中亮点能反映真实的原子或原子对,且像点的强度与原子序数的平方成正比,因而可以获得原子分辨率的化学成分信息[1]。近年来,随着图2 STEM中...
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