宁波盘羊仪器有限公司 公司认证：已认证企业类型：私营有限责任公司成立时间：主营产品：,,高温电阻率测试仪,方阻仪公司地址：
浙江宁波江北区洪塘工业C区 开元路225弄58号
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公司介绍Company Introduction 宁波盘羊仪器有限公司
（简称：盘羊仪器）英文名称：Ningbo Argal instrument Co.,Ltd （Abbreviation：Argal instrument）从事新材料测试技术及精密测量仪器的开发、生产及售后服务一体的实业企业，涉及新材料产业与新能源材料、半导体、导体、超导体、绝缘性材料、高分子、纳米材料的测量与分析.公司秉承“专业与精密；质量与服务并进的经营理念，采用先进测量技术为科研院所，大中专院校、企业研发及品质管理提供可靠数据资讯；同时为自动化系统集成商提供配套衔接服务.
人才始终是我们的资本，‘盘羊人’具有盘羊一样的精神：团队合作，勇于挑战，不断追求，我们实行有效而民主的扁平管理模式，更加注重员工对企业经营管理的参与性，盘羊仪器通过创新技术的应用，在环境保护、节能事业做出努力.
四探针测试仪,电压降测试仪,高温电阻率测试仪,表面电阻测试仪,表面电阻率测定仪,方块电阻测试仪,半导体电阻率测试仪,,体积电阻测试仪,体积电阻率测定仪, 双电四探针测试仪,四探针电阻率测试仪,四探针方阻测试仪,接触压降测试仪 ,方阻仪,方阻计，线束电压降测试系统，表面和体积电阻测试..【】
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关于我们 联系我们名称：宁波盘羊仪器有限公司电话：6手机：地址：浙江宁波江北区洪塘工业C区 开元路225弄58号
主营产品四探针测试仪,电压降测试仪,高温电阻率测试仪,方阻仪
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欢迎来到我们网站广州四探针科技官方网站-四探针测试仪(Four-Point Probes)-RTS8、SDY4、RTS9、SDY5、RT70、DM11四探针电阻率测试仪
销售电话：020-
联系人：方滨
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RTS-1345全自动四探针测试系统
*. 可对样品进行单点、五点、九点、多点、直径扫描等模式的全自动测试；
屏蔽测试，完全消除光线对样品测试的影响，保证测量的准确性；
*.测量范围&-电阻率:0.Ω&cm(可扩展)
　　　　&&&方块电阻:0.001～20000Ω/□(可扩展)
四探针测试仪主机、FT-203四探针探头、测试软件(含测控模块)
四探针测试仪主机、FT-203四探针探头、台式电脑
四探针测试仪主机、FT-203四探针探头、IBM笔记本电脑
用户可按实际需要选择配置，电脑可按用户要求以市场价配置或自行购置安装测试软件即可
RTS-8型四探针测试仪
*.运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M
标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果；
*.适用晶片尺寸：2&～12&(选配探针台)；
*.测量范围&-&电阻率：10-5～105 Ω&cm(可扩展)
&&&方块电阻：10-4～106&Ω/□(可扩展)
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、测试软件(含测控模块)
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、台式电脑
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、IBM笔记本电脑
用户可按实际需要选择配置，电脑可按用户要求以市场价配置或自行购置安装测试软件即可
RTS-4型四探针测试仪
*.RTS-4所有的特性和规格跟RTS-8一样。不同处
&&RTS-8测量范围比RTS-4宽
*.测量范围&-电阻率:0.Ω&cm(可扩展)
　　　　&&&方块电阻:0.001～20000Ω/□(可扩展)
四探针测试仪主机、S-2B型探针台、FT-201四探针探头
四探针测试仪主机、S-2B型探针台、FT-201四探针探头、测试软件(含测控模块)
四探针测试仪主机、S-2B型探针台、FT-201四探针探头、台式电脑
用户可按实际需要选择配置，电脑可按用户要求以市场价配置或自行购置安装测试软件即可
SDY-4型四探针测试仪
*.根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国
&&A.S.T.M标准设计的半导体材料电阻率及方块电　&&阻(薄层电阻)测试专用仪器；
*.适用晶片尺寸：2&～6&；
*.测量范围&-&电阻率：0.001～200Ω&cm(可扩展)
　　　　&&&方块电阻：0.01～2000Ω/□(可扩展)
四探针测试仪主机、J-2B测试架、TZT-9D四探针探头
四探针测试仪主机、J-2B测试架、TZT-9D四探针探头、710E型微处理器
RTS-2型四探针测试仪
&RTS-2A型四探针测试仪
*.根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国
&&A.S.T.M标准设计的专用于测量硅晶块、晶片电 &&阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡
&&胶等材料方块电阻的小型仪器；
*.体积仅为：125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深)；
*.RTS-2测量范围-电阻率：0.01～1999.9Ω.cm；
&&&&&&&&&&&&&&&&方块电阻：0.1～19999Ω/□；
*.RTS-2A测量范围-电阻率：0.001～199.99Ω.cm；
&&&&&&&&&&&&&&&&方块电阻：0.01～1999.9Ω/□；
四探针测试仪主机、FT-202型四探针探头
四探针测试仪主机、FT-202型四探针探头、S-2B型测试台
RTS-3型四探针测试仪
*.根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国
&&A.S.T.M标准设计的专用于测量硅晶块、晶片电 &&阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡
&&胶等材料方块电阻的手持式仪器；
*.体积仅为：185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高)；
*.测量范围&-&电阻率：0.01～1999.9Ω.cm；
&&&&&&&&&&&&方块电阻：0.1～19999Ω/□；
*.锂电池供电，一次充电可连续使用100小时；
四探针测试仪主机、四探针探头
RTS-9型双电测四探针测试仪
*.采用了四探针双位组合测量新技术，将范德堡测
&&量方法推广应用到直线四探针上，利用电流探针 &&电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测
&&量，把采集到的数据在计算机中加以分析，自动 &&消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和
&&机械游移等因素对测量结果的影响，然后以表格 &&图形方式统计分析显示测试结果；
*.适用晶片尺寸：2&～12&(选配探针台)；
*.测量范围&-&电阻率：10-5～105 Ω&cm(可扩展)
　　　　&&&方块电阻：10-4～106&Ω/□(可扩展)
*.可测晶片厚度：≤3.00mm
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、测试软件(含测控模块)
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、台式电脑
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、IBM笔记本电脑
用户可按实际需要选择配置，电脑可按用户要求以市场价配置或自行购置安装测试软件即可
RTS-5型双电测四探针测试仪
*.RTS-5所有的特性和规格跟RTS-9一样。不同处
&&RTS-9测量范围比RTS-5宽
*.测量范围&-电阻率:0.Ω&cm(可扩展)
　　　　&&&方块电阻:0.001～20000Ω/□(可扩展)
四探针测试仪主机、S-2B型探针台、FT-201四探针探头、测试软件(含测控模块)
四探针测试仪主机、S-2B型探针台、FT-201四探针探头、台式电脑
用户可按实际需要选择配置，电脑可按用户要求以市场价配置或自行购置安装测试软件即可
SDY-5型双电测四探针测试仪
*.用了四探针双位组合测量新技术，将范德堡测
&&量方法推广应用到直线四探针上，利用电流探 &&针电压探针的变换，进行两次电测量，能自动
&&消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距 &&和机械游移等因素对测量结果的影响；
*.适用晶片尺寸：2&～6&；
*.测量范围&-&电阻率：0.001～200Ω&cm(可扩展)
　　　　&&&方块电阻：0.01～2000Ω/□(可扩展)
四探针测试仪主机、J-2B型测试台、9D型探头、710F型数据处理器
四探针测试仪主机、J-52型测试台、DNT-1型探头、710F型数据处理器高温四探针测量-方阻测量系统
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高温四探针测量-方阻测量系统&
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发布时间：
09:43:23&&有效期至：长期有效
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关键词：高温四探针测量系统、高温四探针测试仪、方块电阻测试仪、表面电阻测量系统、电阻测试、电阻率测量系统等。
&高温四探针测量系统的优势：实现600℃高温测量环境；可测量半导体材料的电阻、电阻率；可测量方块电阻和表面电阻的测量；可实现真空测量环境；可实现充气氛测量；多种功能可选，多种温度可选，多种型号可选，欢迎来电咨询！
佰力博HRMS-800高温四探针测量系统用于研究高温条件下材料的导电性能，该系统可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻，设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于高温、真空及气氛条件下测试半导体材料电学性能。
技术规格：
1.测量温度：室温---600&C ;
2.控温精度：&1℃ ，
3.显示精度：&0.1℃；
4.升温斜率：1-5&C/min；测量精度：0.05%；
5.电阻率：10-5 ～105 &O.&
6.电导率：10-5 ～105 s/cm
7.方块电阻：10-4 ～106 &O/□；
8.电阻：10-5 ～105 &O；
9.探针间距：2&0.01mm；
10.探针压力：0~2kg可调；
11.针间绝缘电阻：&1000M&O；
12.真空腔体漏率标准要小于10-9 Pa&m3/&
13.样品：直径15~30mm，厚度小于4mm；
功能特点：
1.可以测量高温、真空、气氛下薄膜方块电阻和薄层电阻率；
2.软件、触摸屏、高温炉等集成于一体，可以进行可视化操作；
3.可实现纯净气氛条件下的测量；同时保证探针在高温下不氧化；
4.真空下可精准调节探针距离；要求采用碳化钨探针，最高耐温600℃；
5.可自动调节样品测试电压，探针和薄膜接触无火花现象；
6.控温和测温采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都是样品实际温度；
7.可配套使用Keithley2400源表；如果需要测量范围扩展的话，可以配置Keithley2182纳伏表，可以测量更低的半导体或导体材料。
单一的测量功能已经不能满足科研快速发展的需求；高温四探针测量系统，不仅可以满足目前研究较多的常温测量环境，更能为高温测量环境的需求未雨绸缪，同时兼具真空测量环境和气氛测量环境。任何测量需求定制均可来电咨询！本产品网址：/b2b/partulab/sell/itemid-.html