rt线代题怎么做

线代题,如图_百度知道
线代题,如图
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P,Q显然互为逆矩阵因此A与对角阵Λ相似从而A^n=(PΛQ)^n=PΛ^nQ=Pdiag(1,2^n,3^n)Q=2 2^n 01 2^n 00 0 2*3^n*1 -1 0-1 2 00 0 1/2=2-2^n 2^(n+1)-2 01-2^n 2^(n+1)-1 00 0 3^n
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RTII射线工艺题(齐全且带答案).doc 50页
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RTII射线工艺题(齐全且带答案)
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··········
··········
四、工艺题(每题20,共20分)
1、技术条件
容器名称:反应斧;容器类别:III类;
设备编号:R-10-031
设计压力:内筒体4.0MPa,夹套1.0 Mpa
焊缝系数:内筒体1.0,夹套0.85
工作介质:水、水蒸汽
主体材料:内筒体316L,夹套16MnR
坡口形式:V
焊接方式:手工焊
检测时机:在用开罐检验
检测比例:A2、
A2‵、B3焊缝100%RT
2、规格(单位mm)
焊缝号 厚度 长度/直径 焊缝号 厚度 长度/直径
A1 14 Φ Φ1000
A2‵ 6 300 B3 8 Φ1200
A5 8 100 B5 8 Φ500
3、提供设备和材料:2505定向机、2505周向机、AgfaC7(长度360mm)
4、要求:按JB/T5《承压设备无损检测》的要求并结合《固定式压力容器安全技术监察规程》请按照AB级要求完成A2、A2‵、B3焊缝的射线工艺卡(曝光量不小于15mA.min)。并在图上标出射线源、工件和胶片的相对位置示意图。
130 150 170 190 210 230 250(KV)
             
             
             
5              
4              
曝光时间(分)
             
3              
             
         
             
             
1              
         胶片AgfaC7
 增感屏Pb0.03mm×2
        焦距700mm
 显影20℃±1,5min
 底片黑度D=2.5
0.5        
       
       
       
0.5 10 20 30 40 50 60
透照厚度TA(mm)定向2505曝光曲线
150 170 190 210 230 250
             
5              
4              
曝光时间(分)
             
3            
             
       
             
           
1            
         胶片AgfaC7  增感屏Pb0.03mm×2 焦距700mm  显影20℃±1,5min  底片黑度D=2.5
       
0.5        
       
       
       
       
0.5 10 20 30 40 50 60
透照厚度TA(mm)周向2505曝光曲线
射线检测工艺卡
编号:XXXX-XX
产品名称 反应釜 设备编号 R-10-031 探伤比例 100%
材料牌号 内筒体316L,夹套16MnR 焊接方法 手工焊 坡口形式 V
使用标准 JB/T5AB级 象质计 FeIII10-16 胶片类型 AgfaC7
底片黑度 2.0-4.0 仪器型号 A2、A2‵2505定向机、
B3、2505周向机 增感屏 铅0.1/0.1mm
探伤时机 在开罐检查;表面清理目视检查合格后 暗室处理 手工冲洗和干燥
焊缝编号 透照厚度 焊缝长度 透照
方式 焦距 布片张数 透照次数 透照有效长度 像质计置于
侧 像质计线径号 管电压KV 时间
A2 26 1900 源在外双-单 700 6 6 320 胶片侧 12F 180/170 3/4
A2‵ 18 300 单壁 700 1 1 300 源侧 11 150/140 3/4
B3 26 3770 源在内中心 600 12 1 320 胶片侧 12F 210/200 3/4
透照示意图及其他要求:
1、底片评定范围黑度2.0-4.0;
2、标记摆放按照通用工艺执行;
3、布片位置
日期: XXX
审核:XXX II(III)
四、题(分)
L1(mm) 700
(mA·min) 15
正在加载中,请稍后...[转载]RT高级射线检测培训复习题汇编
无损检测人员技术资格等级培训考核
广东省机械工程学会无损检测分会
一. 选择题
二. 是非判断题
三. 问答题
四. 计算题
五. 工艺标准与规范
六. 射线实时成像检测
一. 选择题
1.原子核外电子能级最高的是(a)a.外壳层& b.中间壳层&
c.内壳层& d.以上均不是
2.下列几种辐射中,哪种在空气中的电离效应最高?(a)
a.α粒子& b.β粒子&
c.中子& d.α和Χ射线
3.Χ射线、γ射线和α粒子有一个共同点,即它们都是(d)
a.物质粒子辐射& b.电磁辐射&
c.微波辐射& d.电离辐射
4.当射线波长一定时,下列哪种物质的μ值最大?(d)a.Fe&
b.Al& c.Mg& d.Cu
5.放射性同位素衰变时,同位素的原子核以哪种方式蜕变?(d)
a.粒子发射& b.K俘获&
c.淹灭辐射& d.a和b
6.放射性同位素源的比活度取决于(d)
a.核反应堆中照射的中子流& b.材料在反应堆中的停留时间
c.照射材料的特性(原子量、活化截面)& d.以上全是
7.γ射源的辐射输出,又称为特性强度,通常以有效输出表示,其单位为(c)
a.R/h&ci& b.R/m&s&ci&
c.m&R/h&ci& d.R/m&h&ci (注:1ci=3.7*1010Bg)
8.具有良好检出灵敏度的中子一般是指(b)a.冷中子&
b.热中子& c.超热中子& d.快中子
9.对于射线检验的防护而言,应着重考虑的是(c)
a.眼晶体的非随机效应& b.其它单个器官或组织的非随机效应
c.全身均匀照射的随机效应& d.以上都是
10.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后,表示射线强度衰减规律的公式为(a)
a.I=I0e-μd&&
b.I=I0e-2μd&&
c.I=-μdI0&& d.以上都不对
11.设入射线强度为I0,透过射线强度为I,散射线强度为Is,则散射比n定义为(a)
c.I/I0&& d.I0/I
12.2000KV的X射线最短波长约为(b):a.0.093&&
c.0.093nm& d.0.062nm
13.与低能射线透照相比,高能射线透照具有以下特点(a)
a.宽容度大& b.对比度较高&
c.感光速度快& d.散射线影响大
14.设宽束X射线贯穿物体后,在某一点所接收到的射线总强度为Ip=I+Is,则散射比为(a)
c.I/Is&& d.Ip/Is
15.一般放射性比活度高的源较理想,因其自吸收(c)
a.较高;b.相同;c.较低;d.无自吸收
16.韧致辐射是指高速运动的电子同靶相碰撞时,与靶的什么相互作用而放出电子的能量,产生连续Χ射线的?(d)
a.自由电子& b.原子核的质子&
c.壳层电子& d.原子核外库仑场
17.用电磁铁和变压器配合,以环形轨迹加速电子的装置称为(d)
a.静电加速器& b.直线加速器&
c.电磁感应加速器& d.回旋加速器
18.直线加速器中,电子以何种方式加速?(a)
a.高频电波& b.加速磁铁&
c.中子轰击& d.改变交流电磁铁磁场
19.回旋加速器中,电子以何种方式加速?(b)
a.场发射& b.改变交流电磁铁磁场&
c.高频电波& d.加速磁铁
20.Χ射线管聚焦杯起电子透镜的作用,聚焦杯如何限制电子束尺寸?(d)
a.俘获灯丝发射的杂散电子& b.限制灯丝电流的最大安培值;
c.减少靶散射的二次电子在玻璃管壁上产生的负电荷& d.与负电位相接
21.决定Χ射线管靶材适用性的两个因素是(d)
a.拉伸强度和屈服强度& b.焦点和磁强度&
c.电阻和抗氧化性能& d.原子序数和熔点
22.下列哪种辐射测量仪器的工作机理不是气体检测机理?(b)
a.比例计数器& b.半导体检测器&
c.电离室& d.盖格-缪勒计数器
23.气体受射线轰击后会发生电离,变成导电体的这一物理现象可用于(d)
a.X射线机变压器& b.X射线管&
c.密度计& d.X射线计量检测仪器
24.钨增感屏的优点是(d):a.清晰度高& b.不易出现伪像&
c.使用寿命长& d.以上都是
25.当其他操作条件不变,管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度变化,其变化大致与管电流的变化成比例,是什么因素影响管电流与射线强度完全按比例变化?(b)
a.波长变化不完全成比例&&
b.管电压和X射线设备的电压波形随负载发生变化
c.电流在线性比率上才能改变&&
d.散射线不能按比率变化
26.假定同位素放射源发射单一波长的γ射线,某时在离射源2米处测得其γ射线照射率,14天后同一时刻,再在离该源1.92米处测出其照射率与前同,则该源的半衰期为(a)
c.75天&& d.50天
27.中子能通过β衰变成为(b):a.电子& b.质子&
c.α粒子& d.光子
28.习惯上把能量在0.1MeV以上的中子叫做(a)
a.快中子& b.慢中子&
c.中能中子& d.共振中子&
e.热中子& f.冷中子
29.习惯上把能量在10-2eV左右的中子叫做(e)
a.快中子& b.慢中子&
c.中能中子& d.共振中子&
e.热中子& f.冷中子
30.目前较为成熟的中子射线照相应用的是(e)
a.快中子& b.慢中子&
c.中能中子& d.共振中子&
e.热中子& f.冷中子
31.热中子照相系统包括(f)
a.中子源& b.慢化剂&
c.准直器& d.被照物&
e.像探测器& f.以上全部
32.在热中子照相中采用直接曝光法所利用的转换屏材料应用最多且效果最好的是(d)
c.硼&& d.钆
33.在中子照相中需要使用转换屏,它在接受中子照射后能放出(d)辐射而使X射线胶片感光&&&
c.γ&& d.以上都是
34.在热中子照相中采用间接曝光法所利用的转换屏材料应用最多的是(e)
d.金&& e.a和b
35.将空气中一点上的照射量换算为该点上的空气吸收剂量的表达式为(a)
a.D空气(rad)=0.87Dx(R)&&
b.D物质=fDx&&
c.D人体=FDx&& d.以上都不对
(式中:D空气-空气的吸收剂量;D物质-物质的吸收剂量;D人体-人体的吸收剂量;f-与光子能量及受照物质原子序数有关的系数;F-f与反映射线在人体内的吸收和散射作用系数的乘积)
36.将受照射的某种物质中一点上测得的照射量换算为该点上该物质的吸收剂量,其表达式为(b)&
a.D空气(rad)=0.87Dx(R)& b.D物质=fDx&
c.D人体=FDx& d.以上都不对
(式中:D空气-空气的吸收剂量;D物质-物质的吸收剂量;D人体-人体的吸收剂量;f-与光子能量及受照物质原子序数有关的系数;F-f与反映射线在人体内的吸收和散射作用系数的乘积)
37.将空气中某点的照射量换成人体若处于该位置时,在体内相应点上的吸收剂量,其表达式为(c)&
a.D空气(rad)=0.87Dx(R)& b.D物质=fDx&
c.D人体=FDx& d.以上都不对
(式中:D空气-空气的吸收剂量;D物质-物质的吸收剂量;D人体-人体的吸收剂量;f-与光子能量及受照物质原子序数有关的系数;F-f与反映射线在人体内的吸收和散射作用系数的乘积)
38.低能光子在原子序数较高的物质中因(a)效应显著而被更多地吸收
b.康普敦散射&&
c.电子对生成&& d.以上都不是
39.热释光型个人剂量监测的射线感受元件是(e)
a.CaF:Mn&&
c.CaSO4:Mn&&
d.MgF2:Mn&& e.以上都是
40.在中子射线防护中采用快中子减速方法,较好的中子减速剂是(d)
c.水&& d.以上都是
41.在中子射线防护中采用热中子吸收方法,较好的吸收剂是(e)
d.硼酸&& e.以上都是
42.已知离射源1米处的照射率为5R/h,在该处放厚20毫米的钢板进行透照拍片,该射源对钢的半值层为10毫米,为了获得适当的底片黑度需要500mR,则每次拍片曝光时间应为多少分钟?(b):a.12&&
c.36&& d.48
43.用10居里的铱192射源在野外对距其1米处厚20毫米的钢进行透照拍片,已知该射源的电离常数为0.6rhm/Ci,对钢的半值层为10毫米,为了获得2.0黑度的底片需要曝光多少分钟?(b):a.10&&
c.30&& d.40
44.在离铱192源1米处的照射率为6R/h,透照距离0.5米处厚20毫米的钢,已知钢的吸收系数为0.693cm-1且不随吸收体厚度而变,散射因子为2,所使用胶片在获得300mR时可达到2.0黑度,则要获得2.0黑度的底片需要曝光多少分钟?(a)
c.10&& d.15
45.天津工业X射线胶片IV-C型是一种颗粒较细、高对比度、适应高温快显机器冲洗处理的胶片,适用于中等厚度重金属或较厚轻金属工件的射线照相,它相当于(d)胶片
a.Agfa D7&& b.Kodak
AA-5&& c.Fuji
100&& d.以上都是
46.玻璃钢中含有的下列相同尺寸的夹杂物中,射线照相影像的对比度最大的是(b)
a.铝& b.铁& c.棉布&
47.X射线透照电压100千伏时,铝相对于钢的射线照相等效系数是0.08,对厚度120毫米的铝透照时,应采用厚度(b)毫米的钢的曝光量:a.4.8&
b.9.6& c.6.0& d.2.4
48.下列元素对中子吸收最大的是(a):a.氢& b.铝&
c.铁& d.铅
49.下列元素对中子吸收最大的是(a):a.硼& b.铜&
c.钨& d.铅
50.在中子射线照相-直接曝光法中常使用的转换屏是(d):a.镝&
b.铅& c.铑& d.钆
51.在中子射线照相-间接曝光法中常使用的转换屏是(d):a.锂&
b.铅& c.镉& d.铟
52.下列各项中与品质因数相关的是(a)
a.不同辐射产生的辐射生物效应不同& b.辐射可以将部分或全部能量传给物体
c.辐射可以引起空气电离& d.以上都是
53.按照危险度与权重因子规定的剂量当量限值是对于(c)规定的
a.躯体效应& b.远期效应&
c.随机效应& d.非随机效应
54.射线源的强度剂量、射线的照射剂量率和吸收剂量率之间是相互联系的,照射剂量率与射线强度剂量的关系可用下式表示(a)
a.P=0.84m/r2 (R/h)& b.P=0.84mr2
(R/h)& c.P=0.84r2/m (R/h)&
d.以上都不对
(式中:P-无遮挡、无吸收时的照射剂量率;m-射线源的强度剂量(克镭当量);r-测量点与射线源的距离(米))
55.如果你处于射线剂量仪读数为200mR/h的辐射区3小时,则你接受到的剂量约为(b)mrem&&&&&
a.600& b.500&
c.400& d.300
56.如果你每小时接受0.02rad的α射线照射,4小时后你将接受到(b)rem的剂量
a.3.2& b.1.6&
c.0.8& d.0.4
57.如果你每天在0.008R/h的γ辐射区工作半小时,则10天后你将接受(a)mrem的剂量&&&
c.11.2&& d.5
58.滤光片是高原子序数金属(如铜、钢、铅)制成,其作用是(d)
a.吸收X软射线,达到过滤目的& b.降低工件对比度,从而增大其宽容度
c.减少由软射线所引起的散射线& d.以上都是
59.在散射线的分类中,一般把散射辐射与透射辐射所成的夹角等于小于90°时称之为(a)
a.前散射& b.背散射&
c.侧面散射& d.以上都不是
60.连续谱X射线透照工件时,随着透照厚度的增加,总的强度递减,而平均波长值(b)
a.变小& b.变大&
c.不变& d.以上都不对
61.射线照射到胶片上时,由于卤化银颗粒发生光化反应,在晶格缺陷处沉积出(b),形成潜像&
a.卤化银分子& b.呈原子态的银&
c.呈离子态的银& d.以上都不对
62.射线照相中的安全控制是指(d)
a.辐射源的安全控制& b.环境的安全控制&
c.操作人员受照射的安全控制& d.以上都是
63.射线辐射方向与裂缝方向之间的夹角(射线角)超过(c)时,裂缝的检出程度就变得很低了&&&
a.5°& b.10°&
c.15°& d.20°
64.下面哪种方法属于中子射线照相方法(d)
a.直接曝光法& b.康普顿曝光法&
c.转移曝光法& d.a和c
65.透照有余高的焊缝时,射线底片对比度为(a)
a.在某一线质时达到最大值& b.射线能量越低,对比度越大
c.不受散射比的影响& d.以上都不是
66.透照板厚一定且有余高的焊缝,散射比随有效能量的提高而(b)
a.增大& b.减小&
c.不变& d.不一定
67.用单壁外透法透照同一筒体时如不考虑焦点投影尺寸的变化,纵缝Ug与环缝Ug的重要区别是:在一张底片的不同部位(a)
a.纵缝Ug值各处都一样,而环缝Ug值随部位而变化
b.环缝Ug值各处都一样,而纵缝Ug值随部位而变化;
c.无论纵缝、环缝,Ug值在任何部位都相同,不发生变化
d.以上都是
68.用置于透照区中心附近的铂钨双丝透度计可从射线底片上测出一定管电压下的(c)
a.吸收系数& b.散射因子&
c.固有不清晰度& d.形状修正系数
69.当射源种类、Χ光胶片、增感屏种类一定时,底片上可识别的象质计钢丝直径与什么有关?(c)
a.只取决于黑度D& b.只取决于μp/1+n&
c.取决于D和μp/1+n& d.与D或μp/1+n均无关
70.如何提高射线胶片的信噪比?(a)
a.增加曝光量& b.提高管电压&
c.采用快速胶片& d.提高显影液pH值
71.用含锑6%的铅合金代替铅作增感屏其原因是这种增感屏(c)
a.清晰度好& b.斑点效高深莫测少&
c.比较耐磨损& d.增感系数高
72.192Ir的γ射线通过水泥墙后,照射率衰减到200mR/h,为使照射率衰减到10mR/h以下,至少还应复盖多厚的铅板?(d)(HPb=0.5mm)
a.30.5mm& b.10.5mm&
c.40.6mm& d.21.5mm
73.制订放射性同位素与射线装置放射防护条例是为了(d)
a.保障从事放射工作的人员和公众的健康与安全& b.保护环境
c.促进放射性同位素和射线技术的应用与发展& d.以上都是
74.线型像质计的像质指数Z和金属丝直径d之间的关系是(b)
a.d=106-2/10& b.d=10(6-2)/10&
c.Z=10(6-d)/10& d.Z=106-d/10
75.采用4.5x4.5mm方形有效焦点的X光机透照厚度100mm的工件,当焦距为1000mm时,其“几何不清晰度”为(b)&
a.0.25mm& b.0.5mm&
c.0.75mm& d.1mm
76.射线透照厚度1.25英寸的铸件,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为(b)&
a.0.8%& b.1.6%&
c.2.4%& d.3.2%
77.像质计金属丝的“几何因素修正系数σ”随几何间距与金属丝直径比值φ'/φ的急剧增大而(c)&
a.不变& b.增大&
c.减小& d.以上都不是
78.透照某工件时采用荧光增感,假定管电流为10mA,曝光时间40秒,可以得到理想的射线底片,若用5mA管电流得到同样黑度的底片,需要的曝光时间是(b)
a.小于80秒& b.大于80秒&
c.等于80秒& d.以上都不对
79.美国ASTM、ASME透度计2-1T号的等效灵敏度为(b)
a.1.0%& b.1.4%&
c.2.0%& d.0.7%
80.增大工件到胶片的距离将引起图像的几何放大,但这在什么情况下是可以采用的?(c)
a.为了提高清晰度& b.减小射源尺寸&
c.为了减少散射比& d.做低倍射线照相
81.筒形工件,当选用内源透照法时,若要获得对横向裂纹的最高检出率,射线源应放置在(a)&
a.内圆中心处& b.小于内半径处&
c.大于内半径处& d.以上都不是
82.220KV的X射线,对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1比1.4,若以21mm厚的钢板进行射线照相时的曝光条件,对铜进行射线照相,则此铜板的厚度应该是多少?(c):a.20mm&
b.35mm& c.15mm& d.25mm
83.220KV的X射线,对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1比1.4,若以10mm厚的铜板进行射线照相时的曝光条件,对钢进行射线照相,则此钢板的厚度应该是多少?(b):a.6mm&
b.14mm& c.28mm& d.25mm
84.当用观察灯观察底片时,为了获得更直观的效果,在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法,称之为(b)
a.荧光屏观察法& b.立体射线照相法&
c.干板射线照相法& d.闪烁计数法
85.在同一张底片上作两个不同位置的X射线照相,根据缺陷影像的位置移动,相对于试样固定标志的影像,可以计算出缺陷的深度,这种方法称之为(a)
a.深度定位视差法& b.立体射线照相法&
c.荧光增感照相法& d.立体投影法
86.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊形式表现为(b)
a.底片的衬度差& b.底片上出现斑点&
c.底片上发生严重灰雾& d.底片的分辨率差
87.在底片上出现特殊形状的斑点影像,又称为“劳埃斑”的可能原因是(a)
a.X射线在粗晶材料中发生衍射效应所致& b.X射线在粗晶材料中发生折射效应所致
c.背散射所致& d.侧面散射所致
88.大晶粒金属零件射线照相时,用什么方法可以减轻衍射斑点的影响?(c)
a.提高管电压并使用荧光增感屏& b.降低管电压并使用铅箔增感屏
c.提高管电压并使用铅箔增感屏& d.降低管电压并使用荧光增感屏
89.通常在透照哪些材料时容易产生衍射斑点?(d)
a.较薄的大晶粒重元素合金铸件& b.镍基高温合金铸件&
c.铸造单晶叶片& d.以上都是
90.对于包括轴、圆棒类、厚壁小孔圆管等圆形截面工件的透照,为了减少厚度差的影响,简单有效的方法是(d)
a.制作专用托座& b.制作专用夹具&
c.补偿物法& d.使用滤波板
91.200千伏时,钢和铜的射线照相当量系数分别为1.0和1.4,对12毫米厚的铜板进行射线照相,需要用(a)厚的钢的曝光量:a.16.8mm&
b.8.4mm& c.33.6mm& d.25.4mm
92.下列各种衍射斑纹在铸件中常见的是(c)
a.线状衍射斑纹& b.羽毛状衍射斑纹&
c.斑点状衍射斑纹& d.以上都是
93.判断射线照片上的影像斑纹是否是衍射斑纹的方法是(d)
a.改变透照电压& b.改变透照方向&
c.改变胶片与工件间距离& d.以上都是
94.在射线照相质量验收标准中经常重新作出规定的是(b)
a.缺陷性质& b.缺陷数量&
c.缺陷位置& d.以上都是
95.关于放大射线照相技术,下列叙述正确的是(b)
a.放大倍数存在最佳值& b.工件与胶片的距离越小越好
c.射线源与工件的距离越小越好& d.以上都正确
96.下列问题中适于康普顿背散射成像技术检验的是(d)
a.金属表面的腐蚀裂纹& b.原子序数低厚度小物体的层析射线照相
c.厚度很大物体的表面层内部缺陷& d.以上都是
97.下列技术中适于检验厚度很大物体表面层缺陷的是(c)
a.中子射线照相& b.射线CT技术&
c.康普顿背散射成像技术& d.以上都是
98.电子射线照相技术采用单面乳剂胶片主要是因为(d)
a.胶片的清晰度高& b.增加电子的感光作用
c.减少电子的散射& d.减少胶片对X射线的吸收
99.在下列问题中,更适于采用中子射线照相检验的是(d)
a.厚大钢铸件的裂纹缺陷& b.厚大钢铸件的缩孔缺陷
c.厚大钢铸件的熔剂夹杂物& d.以上都是
100.对于例如铝蜂窝粘接结构的表面蒙皮与蜂窝芯体粘接情况之类的金属粘接质量检查,较适宜的无损检测方法是(c)
a.X射线照相检测& b.伽马射线照相检测&
c.中子射线照相检测& d.α射线检测
101.对于例如炮弹弹体内火药之类的金属外壳中含氢物质质量检查,较适宜的无损检测方法是(c)&
a.X射线照相检测& b.伽马射线照相检测&
c.中子射线照相检测& d.α射线检测
102.对于核反应堆的核燃料质量检查,较适宜的无损检测方法是(c)
a.X射线照相检测& b.伽马射线照相检测&
c.中子射线照相检测& d.α射线检测
103.线状衍射斑纹的一个重要特点使其一侧常伴随有(c)
a.白线& b.人字形斑纹& c.以上都是
104.当改变透照电压时,衍射斑纹在射线照片上的影像一般(b)
a.无变化& b.有明显变化&
c.衍射斑纹的形成与管电压无关
105.线状、羽毛状衍射斑纹常出现在(d)的焊缝射线照片上
a.不锈钢& b.铝合金&
c.钛合金& d.以上都是
106.斑点状衍射斑纹常出现在(d)的铸件射线照片中
a.轻合金& b.不锈钢&
c.一般碳钢& d.a和b
107.在射线底片上的线状斑纹,在大多数情况下其影像具有清晰的形貌,影像的黑度也较大,这种显示很可能是(c)&
a.裂缝& b.夹渣&
c.擦痕& d.以上都不是
108.对非金属材料和复合材料工件进行射线照相时应特别注意(c)
a.黑度& b.管电压&
c.散射线防护& d.曝光参数
109.非金属材料和复合材料工件进行射线照相时散射线增多主要是因为它的成分中有较多(b)的物质&&&
a.原子序数高& b.原子序数低&
c.高密度& d.以上都不是
110.在射线照相中,确定缺陷在工件中深度位置的方法是(d)
a.在互相垂直的两个方向对工件作二次照相& b.对工件作平移二次照相
c.对工件作旋转二次照相& d.以上都是
111.已知某品牌的便携式X射线机(300KV,5mA)的穿透能力可达到53mmFe,已知300KV的X射线对钛合金与钢的射线照相等效系数分别为0.6和1.0,则要透照90mm厚的钛合金饼坯,该X射线机能否胜任?(b)
a.可以胜任& b.已达到该X射线机的能力最高值,不宜使用&
c.无法确定& d.以上都不对
112.阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比(a)
a.阶梯孔型像质计更灵敏些& b.丝型像质计更灵敏些&
c.两者灵敏性相同& d.以上都不是
113.阶梯孔型像质计的射线照相灵敏度规定为(a)
a.Sh=(h/T)x100%& b.Sh=(T/h)x100%&
c.Sh=(h&T)x100%& d.以上都不是
(式中:Sh-阶梯孔型像质计的射线照相灵敏度;h-可识别的最小孔所在的阶梯的厚度;T-工件的透照厚度)
114.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(a)
a.沟槽型& b.阶梯型&
c.线型& d.平板孔型
115.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(b)
a.沟槽型& b.阶梯型&
c.线型& d.平板孔型
116.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(b)
a.沟槽型& b.阶梯孔型&
c.线型& d.平板孔型
117.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(b)
a.沟槽型& b.阶梯孔型&
c.线型& d.平板孔型
118.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(d)
a.沟槽型& b.阶梯孔型&
c.线型& d.平板孔型
119.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(d)
a.沟槽型& b.阶梯孔型&
c.线型& d.平板孔型
120.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(a)
a.斜面型& b.阶梯孔型&
c.线型& d.平板孔型
121.在主要考虑几何不清晰度与胶片固有不清晰度的情况下,底片总的不清晰度与几何不清晰度和胶片固有不清晰度的关系可以表达为(a)
a.U2=Ug2+Ui2& b.U2=Ug2-Ui2&
c.U=Ug2+Ui2& d.以上都不对
(式中:U-底片总的不清晰度;Ug-几何不清晰度;Ui-胶片固有不清晰度)
122.下面关于恒电位X射线机的叙述中,错误的是(b)
a.恒电位X射线机也简称为CP型X射线机
b.恒电位X射线机可产生一个恒定能量的X射线束
c.恒电位X射线机能提供更强的能量输出
d.恒电位X射线机能延长射线管寿命和缩短曝光时间
123.在用针孔测量法测量X射线管的有效焦点尺寸时,应使用(d)
a.增感型胶片& b.非增感型胶片+铅箔增感屏
c.快速非增感型胶片& d.非增感型的微粒胶片
124.在X射线照相中使用相纸技术时,其黑度的测量是采用(b)
a.透射式黑度计& b.反射式黑度计&
c.以上都是& d.以上都不是
125.有三种伽马射线源,其性质列表如下:
射线源&能阶(KeV)&半衰期&输出(rhm/Ci)
60Co&&5.3年&1.35
192Ir&206-610&75天&0.55
75Se&66-401&120天&0.203
下数句子错误的是(c)
a.60Co有较大的穿透力,适合检测厚件&
b.192Ir半衰期较短,检测前要知道其活性(居里数)
c.75Se还在实验室阶段,不适合用于射线检测& d.75Se能阶较低,适合检测薄件
126.ASME孔洞型像质计之缺角代表(a):a.材质&
b.编号& c.厚度& d.孔径
127.按辐射防护规定,工作人员的最高许可等效剂量值(rem)的基本计算公式为(a)
a.H=5(N-18)& b.H=6(N-18)&
c.H=5(N-20)& d.H=6(N-20)
(式中:H-累积总等效剂量,rem;N-实足年龄)
128.公司8月份新招聘的无损检测员工中发现一名新工人应该在12月31日年满18周岁,该名员工可否立即跟随参与放射性检测工作?(b)
a.应先改做与放射性检测业务相关的工作
b.应先改做不与放射性源接触的工作至满18周岁以后
c.应改行做其他与放射性检测业务无关的工作
d.可以立即跟随参与放射性检测工作
129.按辐射防护规定,从事放射性工作的人员年龄必须年满(b)
a.16周岁& b.18周岁&
c.20周岁& d.22周岁
130.按辐射防护规定,一位35岁的女性工作人员可否参与临时性的应急照射检测工作?(a)
a.不允许& b.可以参与&
c.只要本人愿意就可以参与& d.以上都不对
131.按辐射防护规定,一位45岁的女性工作人员可否参与临时性的应急照射检测工作?(a)
a.不允许& b.可以参与&
c.只要本人愿意就可以参与& d.以上都不对
132.从事放射性检测工作的人员的剂量核算的各种资料至少应保存(d)年:
a.10& b.15&
c.20& d.30
133.从事放射性检测工作的人员的剂量核算的各种资料保存年限起计时间是(b)
a.自其开始参与放射性检测工作之日起算& b.自其停止参与放射性检测工作之日起算
c.自18周岁起算& d.自第一次测量其接受放射性辐射的照射剂量当量之日起算
134.常用荧光增感屏的荧光物质是什么?(d):a.钨酸钙&
b.硫酸铅钡& c.氯化钠& d.a和b
135.金属丝型像质计的灵敏度计算表达式为(a)
a.(像质计在底片上显现的最小线径/被检物厚度)x100%
b.(像质计在底片上显现的最大线径/被检物厚度)x100%
c.(被检物厚度/像质计在底片上显现的最小线径)x100%
d.(被检物厚度/像质计在底片上显现的最小线径)x100%
136.孔洞型像质计的灵敏度计算表达式为(a)
a.(AB/2)1/2& b.(2/AB)1/2&
c.(AB/2)2& d.(2/AB)2
(式中:A=(像质计厚度/被检物厚度)x100%;B=(像质计在底片上所显现的最小孔径/被检物厚度)x100%)
137.制作金属丝型像质计的衬板或封套、框架,其材质的射线吸收系数应比金属丝的射线吸收系数(b)&
a.大& b.小& c.相同&
138.下面图例1是某公司生产的某型号便携式气绝缘定向曝光X光机的曝光曲线,其曝光条件为Agfa
D7胶片,0.027mmPb增感,焦距700mm,底片黑度2.0,该X光机的额定管电流为6mA,试确定曝光量20-40之间对应220KV的厚度宽容量是多少毫米?(b)
a.3& b.5.5& c.8&
d.无法确定
139.下面图例是某公司生产的某型号便携式气绝缘定向曝光X光机的曝光曲线,其曝光条件为Agfa
D7胶片,0.027mmPb增感,焦距700mm,底片黑度2.0,该X光机的额定管电流为6mA,试确定曝光量20-40之间对应300KV的厚度宽容量是多少毫米?(c)
a.3& b.5.5& c.8&
d.无法确定
二.是非判断题
1.不稳定的同位素在衰变期间,始终要辐射出γ射线。(X)
2.一放射性同位素放出的γ射线穿透力等同于多少千伏或兆伏Χ射线机的穿透力,这种关系称作该同位素的当量能。(0)
3.放射性同位素的当量能上限总是高于其平均能。(0)
4.射线通过材料后,其强度的9/10被吸收,该厚度即称作1/10价层。(0)
5.60Co和192Ir射线源是稳定的同位素在核反应堆中俘获中子而得到的,当射线源经过几个半衰期后,将其放在核反应堆中激活,可重复使用。(X)
6.俄歇电子是指被荧光Χ射线逐出原子轨道的电子。(0)
7.光电子又称为反冲电子。(X)
8.一能量为300千电子伏的光子进入原子中,使一轨道电子脱离50千电子伏的结合能后,又给这个电子50千电子伏的能量使其飞出轨道,则新的光子能量是200千电子伏(0)
9.由焦点尺寸和照像几何条件决定的像质计金属丝几何因素修正系数σ在d'/d的比值大于1时,其数值随d'/d的增大而减小(0)
10.对于2MeV的电子直线加速器,靶材料为钨,比例系数为1.2x10-6时,其连续X射线的转换效率约为1.8%(X)
11.不同种类的放射性同位素,其中活度(居里数)高的辐射出的γ射线剂量不一定比活度低的大(0)
12.高速运动的电子在与靶金属的原子核外电场作用时,发射出连续X射线(0)
13.连续X射线的总强度与管电压的平方成正比,与管电流和靶原子序数成正比(0)
14.“吸收剂量当量”-拉德(Rad)等于被照射生物机体的吸收剂量-雷姆(Rem)与该射线相应的修正系数(RBE)的乘积(对X和γ射线来说修正系数等于1)(X)
15.直线加速器的输出强度要比同样能量的电子感应加速器的输出强度要大许多倍。(0)
16.192Ir射线源产生的射线主要成分是能量几乎呈连续分布的“白色Χ射线”。(0)
17.在显影过程中,KBr中的Br离子被吸附在AgBr表面形成负电层,因而能排斥显影剂负离子对未曝光的AgBr的还原作用,防止灰雾生成。(0)
18.对电子加速器产生的Χ射线束,不宜用铅作过滤材料,原因是铅在高能量射线照射下会被激活。(X)
19.在射线剂量笔中,两个石英纤维丝带有正电荷,当射线通过时就失去它们的电荷,并且其中一个石英纤维丝向另一个靠拢(0)
20.闪烁计数器型的辐射仪,是由铊活化的碘化钠单晶、光电倍增管和电子电路构成(0)
21.在MeV级高能射线照相中,能量越高,则照射场尺寸越大。(X)
22.就设备性能而言,在高能射线照相中照射场尺寸显得十分重要,而焦点尺寸显得较不重要。(0)
23.密封铅罐中的水位可用中子照相法测定。(0)
24.在某一黑度条件下的胶片,其曝光量倒数的104,定义为胶片的感光速度(0)
25.含氢元素的物质对中子射线有较强的衰减作用(0)
26.康普顿效应中,散射光子的波长大于入射光子的波长(0)
27.在无损检测中应用的伽玛射源除了最常用的钴60和铱192、铯137以外,还有75Se、169Yb、170Tm和153Gd(0)
28.75Se(硒75)的半衰期是118天(0)
29.169Yb(镱169)的半衰期是31天(0)
30.170Tm(铥170)的半衰期是129天(0)
31.153Gd(钆153)的半衰期是242天(0)
32.铯137的半衰期是33年(0)
33.一能量为300KeV的光子与原子相互作用,使一轨道电子脱离轨道,且具有50KeV动能飞出,则新光子的能量是250KeV(X)
34.含氢元素的物质对中子射线具有较强的衰减作用。(0)
35.X射线机采用高频电路的优点能将几乎所有的电源瞬变和干扰消除,KV,mA读数精度较高。(0)
36.实验表明,胶片颗粒性对平板孔型像质计中小孔影象显示的影响,要比对线型像质计中金属丝影像的显示影响小得多(X)
37.安装阳极靶时,通常要倾斜一定角度,使该实际焦点小,而有效焦点大(X)
38.在实际使用的焦距范围(100~1000mm)内,焦距的变化对散射比的数值几乎没有影响。(0)
39.只要底片达到特定的黑度值(如最佳黑度值),而不管μp/1+n如何,底片上可识别的象质计金属丝直径必然最小。(X)
40.采用荧光增感时,由于“互易定律失效”,不能根据曝光因子公式修正透照参数。(0)
41.滤板厚度改变时所绘制的Χ射线胶片特性曲线形状和位置均会改变。(X)
42.用2,5,8,18和31MeV这些高能Χ射线透照大厚度工件时,可以达到的探伤灵敏度几乎相同。(0)
43.荧光增感屏或金属荧光增感屏,由于荧光亮度产生的感光作用与接受的射线照相量率的大小是不成正比的,因此照射量率低的时候,曝光时间比通常计算所得的要高,这种现象称之谓“反比定律失效”(0)
44.高能Χ射线发生器能产生能量值很高的射线,因此能检测大厚度的工件,但它的缺点是焦点较大,能量转换效率较低(X)
45.常见的金属增感屏按金属箔材料的不同分为如下几类:铅屏;钢屏;铜屏;钽屏;钨屏(0)
46.金属增感屏的金属箔是由铅、钢、铜、钽或钨等金属分别轧制而成的(0)
47.晶粒较粗大的材料,在一定的射线透照条件下,射线底片上可能产生衍射斑纹(0)
48.当设计低压X射线管时,为了考虑到滤波、效率、散热等因素,X射线管的窗口一般采用铜合金制成(X)
49.采用中子照相法时,其曝光需要先经过转换屏转换,然后再使用X射线胶片曝光(0)
50.采用中子照相法时,其曝光方法是利用荧光增感屏+X射线胶片曝光(X)
51.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大,增感因子增大(X)
52.胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大,增感因子变小(X)
53.如果荧光增感屏的种类一定,则感光速度主要取决于荧光物质的颗粒度,颗粒越大,感光速度越慢(X)
54.荧光增感屏因为经常受到强光照射或紫外线照射导致颜色改变和丧失一些光泽时,可以用弱射线照射使其恢复原有的状态(X)
55.在制作胶片特性曲线时,如果增加显影时间,会使胶片特性曲线变得更陡,并且向左移动(0)
56.在制作胶片特性曲线时,如果增加显影时间,会使胶片特性曲线变得更陡,并且向右移动(X)
57.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊表现形式是底片的衬度差(X)
58.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊表现形式是底片上出现斑点(0)
59.对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以提高管电压并使用荧光增感屏(X)
60.对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以降低管电压并使用铅箔增感屏(X)
61.对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以提高管电压并使用铅箔增感屏(0)
62.对大晶粒金属零件进行射线照相时,为了减轻衍射斑点的影响,可以降低管电压并使用荧光增感屏(X)
63.当单色射线能量约9MeV时,对钢的穿透力最大,此时相应的Χ射线输出约为20MeV(0)
64.60Co放出的γ射线平均能为1.25MeV,相当于KVp X射线穿透力(0)
65.192Ir放出的γ射线平均能为0.35MeV,相当于150~800kVp X射线穿透力(0)
66.60Co和192Ir的射线输出分别为1.3R/m&h&ci和0.5R/m&h&ci(0)
67.60Co和192Irγ射线的能谱线分别为2根和至少24根(0)
68.可用于2~10mm薄壁管透照的一种γ射线新源是169Yb,其半衰期为31天,射线输出为125mR/h&ci(0)
69.检查轻合金的薄试件也可利用β放射同位素所产生的韧致辐射,常用的源如90Sr和169Yb等(0)
70.中子射线有以下特点:在重元素中衰减小、在轻元素中衰减大、在空气中电离能力弱、不能直接使胶片感光(0)
71.常用的中子源有同位素中子源、加速器中子源和原子反应堆(0)
72.不同剂量的照射对人体的损伤:D≤(0.25Gy)的一次照射时,无明显病理变化;D≈(0.5Gy)时,出现一时性血象变化;D≥(1Gy)时,会引起急性放射病(0)
73.发生光电效应几率的实验近似公式为:τ=kρz4λ3,其中K为常数;ρ为(物质密度);Z为物质的原子序数;λ为射线的波长(0)
74.波长为0.1 的光子,其能量E=124000 eV=2&10-7尔格(0)
75.管电压250kV时,产生射线的最短波长为0.0496 (0)
76.X射线穿透钢材料时,两种主要效应的发生几率与光子能量的关系:J=σc时,E≈(100)keV;σc=max时,E=(1000)keV(0)
77.连续Χ射线总强度可用下式表示:I=(ηoiZV2)(0)
78.连续Χ射线的转换效率公式为η=(ηoZV)(0)
79.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的0.3倍;若已知线衰减系数μ,则1/10价层厚度为2.3/μ(0)
80.钴60γ射线源发出的两种γ射线能量分别为1.17和1.33MeV,因此它们的波长分别为0.0106 和0.00932
81.活度为1居里的铱192,距离它1米处在无遮挡、无吸收的条件下,其一次射线的照射量率为0.55伦琴/小时(0)
82.衰变常数为0.021/年的γ射线源,其半衰期为33年,此射线源为铯源(0)
83.直线加速器的优点是体积小和输出射线强度大,回旋加速器的优点是焦点尺寸小
84.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而增加;射线能量高到一定数值,上述伦琴数基本不变,这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度(0)
85.用盐屏摄得的底片不清晰与两个因素有关,一是结构斑点,二是量子斑点(0)
86.底片颗粒度的表示为:G=σd/α,式中符号意义:σd-密度均方差;α-扫描点面积(0)
87.Χ射线能量低于150kV时,由于吸收系数变化很快,管电压的选择比较严格;能量在200~400kV时,电压变化约为30~40kV才使灵敏度有明显变化;当为2~31MeVΧ射线时,探伤灵敏度几乎相同(0)
88.对电子加速器产生的Χ射线束,不宜用铅或重过滤材料,因在2~3MeV时,其质量衰减系数有一最低值(0)
89.目前常用的中子源有以下三种:①同位素中子源;②加速器中子源;③反应堆中子源(0)
90.192Ir中有77个质子,115个中子,其半衰期为75天,则其衰变常数为0.00924/d(0)
91.放射性同位素的制取有在核反应堆中通过中子照射激活的,如192Ir和60Co,也有是核裂变的产物,如137Cs(0)
92.用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时,聚焦电子漂移会造成曝光量不稳定(0)
93.我国天津感光胶片厂生产的工业用II、III、V型胶片,其感光度大致相当于国外Agfa牌号的D10、D7、D4型胶片,或国外富士牌号的400、200、100或80型胶片(0)
94.若底片上阶梯孔型像质计灵敏度为2%,则实际圆形气孔的检出灵敏度约为3%;为检出1mm气孔,像质计上应显示的阶梯孔径为2/3mm(0)
95.金属增感屏的增感系数随着材料原子序数的增大而增大,在试验范围内金最大,在管电压较低时锡最大(0)
96.金属增感屏的增感系数随着Χ射线管电压的降低而减小,大约在120kV以下时,增感系数小于1(0)
97.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示:G0=dD/dlgE;在两特定密度之间,胶片的平均衬度可表示为G=△D/△lgE(0)
98.为了提高射线照像的对比度,可以采取射线胶片与工件保持适当距离的特殊照像方法,此时1/[1+n]值随该距离的增大而增大,σ值该距离的增大而减小,因此必须取σ/[1+n]值的最大时的最佳距离(0)
99.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是降低X射线管的逆电压,在倍压整流电路里起倍压作用的元件是电容器(0)
100.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧焦点尺寸和射线强度分布不同,因此不能利用整个照射场来透照工件(0)
101.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为:△Da=(△D/(1+n'))(0)
102.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相对比度,细小缺陷的可检出性还取决于胶片的清晰度(0)
103.裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数,还取决于缺陷本身的深度L、宽度W和与射线束的角度θ(0)
104.给定γ射线源可透检厚度范围的上限取决于其能量和强度,下限取决于灵敏度下降值(0)
105.在Χ射线管窗口加滤板有增大厚度宽容度和消除边蚀散射两大作用(0)
106.大晶粒金属零件进行射线照相时,利用提高管电压和使用铅增感屏可以减少或消除衍射斑的影响(0)
107.从实际应用来说,可以认为X射线胶片特性曲线的形状与X射线或γ射线的线质无关(0)
108.X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现斑点状影像(0)
109.X射线管按不同的用途可分为五大类,第一类是医学诊断用X射线管,第二类是医学治疗用X射线管,第三类是材料分析用X射线管,第四类是材料检验用X射线管,第五类是特殊用途X射线管,无损检测应用的是第4类X射线管(0)
110.有的X射线管的阴极头有两组灯丝,可产生两个大小不同的焦点,以适应不同的用途(0)
111.在其他工作条件保持恒定的情况下,管电流变化会使X射线管发射的辐射强度发生变化,强度近似地与管电流成比例,造成强度与管电流不能精确地成比例的主要因素是X射线机变压器的电压和波型随负荷变化(0)
112.金属陶瓷X射线管与玻璃壳X射线管相比有下面六个优点:抗震性强,不易破碎、金属壳不存在电击穿和表面放电问题、管内真空度高,各项电性能好、体积小,重量轻,寿命长、容易装焊铍或钼窗口以放射软X射线、制造工艺简单(0)
113.特殊用途的X光管包括周向辐射X射线管、软X射线管、微焦点X射线管、棒状阳极X射线管(0)
114.中子射线照像检测方法的英文缩写是NRT(0)
115.射线照相检验方法的局限性是不易评定缺陷的形状,大小和分布(X)
116.射线照相检验法的优点是效率高,成本低(X)
117.当射线中心束方向与裂纹开裂面成45°角时,最容易发现该裂纹(X)
118.X射线检测法不适用于混凝土结构件(X)
119.X或γ射线的计算机辅助层析扫描技术简称为工业CT(0)
三. 问答题
1 射线可分为哪几类,对于工业探伤的射线有哪几种?
答:射线可分为以下几类:
(1)Χ射线和γ射线。它们都是波长很短的电磁波,按波粒二相性观点,也可以看作是能量很高的光子流。Χ射线是高速运动的电子撞击金属产生的;γ射线是放射性同位素在γ衰变过程中从原子核内发出的。
(2)电子射线和β射线。它们都是高速电子流。电子射线是通过加速器加速电子得到的;β射线是放射性同位素在β衰变过程中从原子核内发出的。
(3)质子射线、氘核射线和α射线。它们都是带正电的粒子流,质子是普通氢原子核1H1;氘核是氢同位素氘2H1的原子核,由1个质子与1个中子构成;α粒子是氢原子核4He2,由2个质子与2个中子构成。质子射线与氘核射线可利用回旋加速器或静电加速器得到,α射线是放射性同位素在α衰变过程中从原子核内发出的。
(4)中子射线。它是高速中子流,可从原子反应堆中获得,也可通过加速器获得,或从放射性同位素 锎-252中获得。
目前用于探伤的主要是Χ射线、γ射线和中子射线。其中Χ射线和γ射线广泛用于工业探伤,中子射线用于特种检验。
2 什么叫连续Χ射线的有效能量?为什么连续Χ射线穿透物质后有效能量会增大?
答:如果某一单能射线的吸收系数与连续Χ射线在特定厚度范围内平均吸收系数相等,便可用此单能射线的能量来表示连续Χ射线的平均能量,称作有效能量。连续Χ射线包含有能量不同的光子,在穿透物质过程中,能量较低的光子较容易被物质吸收,因此,在射线透过物质后,不同能量射线所占的强度比率发生变化,低能量射线所占比率减少,从而使透过射线的平均能量或有效能量增大。
3 放射性同位素衰变过程中的辐射有哪几种形式?
答:放射性同位素的衰变辐射主要有以下几种形式:(1)仅辐射α粒子,(2)仅辐射β粒子,(3)既辐射α粒子又辐射γ射线,(4)既辐射β粒子又辐射γ射线
4 射线防护有哪几种基本方法?每种防护方法的基本原理是什么?
[提示]:射线防护方法有三种,即距离防护、时间防护、屏蔽防护,距离防护--射线剂量率与离射线源的距离平方成反比,因此尽量在距离射线源远的地方从事射线探伤工作;时间防护--人体接收射线剂量与时间成正比,尽量缩短接收时间以减少对人体的危害;屏蔽防护--射线穿过屏蔽材料时,其能量会衰减,尽量在有安全屏蔽的条件下进行工作
5 影响照相质量的散射线是如何产生的?
答:射线穿过物质时,与物质发生各种相互作用,其结果是除了一部分直接前进的透射线外,还有向各个方向射出的散乱射线以及光电子,反跳电子等。光电子和反跳电子穿透力极弱,大多数被物体自身吸收,即使射到物体外,也很容易被空气吸收,对探伤质量不产生影响。散乱射线中的一部分是由光电效应引发的荧光X射线,这部分射线能量远小于透射线。例如铁的Kβ1荧光X射线能量约7keV,很容易被物体和增感屏吸收,对探伤质量也不产生什么影响。因此影响探伤质量的散射线主要是由康普顿效应和汤姆逊效应产生的,在射线能量很低(小于50keV)范围内,散射线主要由于汤姆逊效应产生,在射线能量较高范围内,散射线主要由康普顿效应产生。
6 简述Χ射线管的结构和各部分作用
答:Χ射线管的基本结构包括:
阴极--灯丝:发射电子;阴极头:灯丝支座,聚焦电子
阳极--靶:遏制电子,发出X射线;阳极体:支承靶,传递靶热量;阳极罩:吸收二次电子,减少管壁电荷,提高工作稳定性
管壳--连接两极,保持真空度
7 绘出能工作的X射线机的最基本电路图,并标明各部分名称& 答:如下图所示。
8 用于X射线检测用的X射线管有哪些类型和种类?
答:就焦点大小区分,可分为大焦点、小焦点和微焦点;就结构形式区分有玻璃壳管、金属陶瓷管和波纹陶瓷管;就辐射形式区分有定向曝光和周向曝光(有平靶和锥靶两种),软X射线管,棒阳极等
9 试比较射线检测与超声波检测两种方法的适用范围和局限性
[提示]:应从两种方法的灵敏度高低、检测厚度范围、易发现的缺陷形状以及安全防护和经济性等方面进行比较
10 何谓互易定律失效?它对射线照相有何影响?
答:互易定律是光化学反应的一条定律,该定律指出,决定光化学反应产物质量的条件,只与总曝光量相关,即取决于照度和时间的乘积,而与这两个因素的单独作用无关,由于它指出了时间和照度的互易关系,所以称为互易定律,如果与这一定律结论有偏离,则称为互易定律失效。如果不考虑光解银对感光乳剂显影的引发作用的差异,互易定律可引伸为显影黑度只与总曝光量有关,而与照度和时间分别无关。在射线照相中,当采用铅箔增感和无增感时,遵守互易定律。设产生一定显影黑度的曝光量E=I&t,当射线强度I和时间t相应变化时,只要两者乘积E值不变,底片黑度不变。当采用荧光增感时,互易定律将会失效。I与t发生变化时,尽管I与t的乘积不变,底片黑度仍会改变。用公式描述保证底片黑度不变的前提下,曝光量E与射线强度I,时间t的关系,其形式为E=I&tp(p≠1)。互易定律是利用曝光因子公式和平方反比定律修正透照参数的基础,如果互易定律失效,则不能利用曝光因子和平方反比定律修正透照参数,这将使透照参数的选择复杂化。
11 何谓几何不清晰度?其主要影响因素有哪些?
答:由于射线源都具有一定尺寸,所以照相时工件轮廓或缺陷边缘都会在底片上产生半影。这个半影宽度便是几何不清晰度Ug,缺陷的几何不清晰度Ug值计算公式为:Ug=db/(F-b),式中:d--射源尺寸;F--焦距;b--缺陷至胶片距离。技术标准中规定的几何不清晰度,通常是指透照中心部位的最大几何不清晰度,计算公式为:Ugmax=dL2/L1
,式中:L1--射线至工件表面距离;L2--工件表面至胶片距离;d--射源公称有效焦点尺寸。由以上公式可知,Ug值与射源尺寸和工件厚度或工件表面至胶片距离成正比,与射源至工件表面距离或焦距成反比。
12 绘图说明胶片特性曲线由哪五部分组成?底片黑度应控制在胶片特性曲线的哪个区域?为什么要控制在这个区域?
答:AB-迟钝区;BC-感光不足区;CD-正常(适量)感光区;DE-过感区;EF-负感区。底片黑度应限制在正常感光区内,因为在这个区域内底片的对比度大(曝光量有小的差异就能产生较大的黑度差),灵敏度高。
13 散乱射线是怎样产生的?它对底片有何影响?透照时如何遮挡?
答:散乱射线是由射线与物质作用而产生的,如果来自工件内部,处于胶片前方,称为前方散射线,射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等,均会产生散乱射线,由于它来自胶片背面,故称背面散乱射线(包括侧壁散乱射线);散乱射线使底片产生附加黑度,严重时全部变黑,影响底片的对比度和清晰度,降低底片的灵敏度;遮挡的方法有:采用限光器(准直器)或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位,从而减少散乱射线对底片的影响;采用金属增感屏,前屏吸收一部分前方散乱射线,后屏减少背面散乱射线的影响;透照较厚工件时,暗盒后面用薄铅板(铅垫板)遮挡背面散乱射线;被透照工件周围尽可能保障有一定的空间,避免存放与透照无关的杂物以避免侧壁散乱射线影响。
14 高能X射线设备的主要原理是什么?
答:利用超高压、强磁场、微波等技术对射线管的电子进行加速,从而获得能量强大的电子束,轰击靶面而获得高能X射线
15 X射线管焦点的尺寸大小与什么有关?
答:主要取决于X射线管阴极灯丝的形状和大小,使用的管电压和管电流对焦点大小也有一定影响。
16 用于狭窄部位摄片的X射线管阳极是什么样的?答:棒状阳极
17 辐射场限制区是如何测量的?
答:X射线机的辐射场尺寸是指从X射线管焦点上发出的X射线在规定距离d处,垂直于输出窗轴线的平面上,X射线辐射场的大小可用曝光拍片法测量,胶片取得足够大,可将辐射场的限制区拍摄下来,以底片最大黑度降低20%构成的边界为辐射场的尺寸
18 中子探伤设备包括哪几部分?答:中子源、慢化剂、准直器和像探测器
19 什么是软射线技术?
答:使用软X射线管,产生的X射线束直接从铍窗口射出,避免了普通X射线管的固有滤波,能基本保持原有波长且能量较低的X射线,称为软X射线,利用其进行透照的技术,即是软射线技术,多用于人体软组织、轻金属和非金属的射线检测
20 选购X光机时,应考虑哪些条件?
答:应考虑以下条件:①首先要选择穿透能力能满足工作厚度的要求;②能量相同时,尽量选小焦点的;③要考虑工作量的大小,连续生产还是断续生产;④要考虑工件的材质和形状,即是有色金属还是重金属,轴类、板材还是筒类等去选择相应的X射线探伤机种。
21 X射线机的常见故障有哪些?
答:常见故障有:①X
射线管松动;②保险丝溶断;③电流表没指示或指示数很小;④电缆断线;⑤自耦变压器老化、高压指数达不到额定值;⑥发生器保护罩漏油,高压跳火;⑦X射线管失效;⑧阳极过热,毫安表针摆动较严重;⑨马达不转,发生器局部发热;⑩X射线管灯丝预热时间不够,而使灯丝老化损坏。
22 绝缘油绝缘强度低劣时有何现象?
答:绝缘油绝缘强度低时,送高压后,电流值不规则的波动,一般不至达到跳闸程度。
23 什么是绝缘油的绝缘强度?
答:油样在油杯内2.5mm间隙时的击穿电压的多次平均值,就是该油的绝缘强度。
24 X射线机要求什么样的绝缘油,有哪些具体要求?
答:X射线机多用45#变压器油、绝缘强度要在50kv以上,还要求有燃点高、凝固点低、挥发性低、粘度适中等。
25 经常熔断电源保险丝的故障原因可能有哪些?
答:X射线管真空度不良,绝缘油里有气泡或绝缘强度降低,高压电路元件损坏,造成对地放电或短路,调压器等低压电路元件绝缘降低,造成对地短路,电源接错等
26 高压可接通,但无管电流的故障原因可能有哪些?
答:X射线管或高压整流管灯丝断或接触不良,高压变压器断线或接触不良,高压电缆与插座接触不良,毫安表损坏无指示,毫安调节器断路等
27 试推导射线照相主因对比度(物件对比度)的表达式
答:已知宽束射线透过厚度为T的试件,其透过射线强度Ip=(1+n)Ioe-μT
--(1),当试件中某一局部区域厚度有变化,射线穿过的厚度差为△T,该区域透过射线的强度也会发生变化,其强度增量为△I,则有:
△I=Ioe-μ(T-△T)-Ioe-μT = Ioe-μT(eμ△T-1) --(2),(2)&(1)得:
△I/Ip= [Ioe-μT(eμ△T-1)]/[(1+n)Ioe-μT]=
(eμ△T-1)/(1+n)--(3),而eμ△T可展为级数
eμ△T=1+μ△T+(μ△T)2/2!……+(μ△T)n/n!…… --(4),近似取级数前两项代入(3),得:
△I/Ip=[(1+μ△T)-1]/(1+n)=μ△T/(1+n) --(5)
28 写出透照厚度差为△T的平板底片对比度公式和象质计金属丝底片对比度公式,说明公式中各符号的含义,并指出两个公式的差异
答:厚度差为△T的平板底片对比度公式:△D= -0.434μpγ△T/(1+n) --(1)
象质计金属丝底片对比度公式:△D= -0.434μpγσ&d/(1+n)
--(2),式中:μp--考虑胶片速度系数的射线吸收系数;γ--胶片反差系数;σ--几何修正系数;△T--平板透照厚度差;d--象质计金属丝直径;n--散射比。
两个公式的差别在于几何修正系数σ,由于透度计金属丝直径d远小于焦点尺寸,在一定透照几何条件下,焦点尺寸会影响金属丝影像对比度,所以公式(2)引入σ对底片对比度进行修正。当缺陷尺寸大于焦点尺寸时,焦点尺寸对底片对比度的影响可忽略不计,所以公式(1)中,没有几何修正系数σ
29 透照有焊冠的焊缝应注意哪些事项?
答:(1)由于焊缝焊冠的存在,底片上焊缝部位黑度D1总是小于母材部位黑度D2,照相时应注意保证D1、D2均在标准允许的黑度范围内。(2)由于底片对比度△D随黑度D的增加而增大,而识别界限对比度△Dmin也随黑度D的增加而增大,因此透照有焊冠焊缝时,通过控制适当的焊缝部位黑度D1和母材部位黑度D2,可使母材部位和焊缝部位能识别的透度计线径相等,此黑度称为有焊冠焊缝透照的最佳黑度。(3)底片对比度随射线有效能量的降低而增大,但另一方面,射线有效能量的降低会使焊缝部位的透射线I1与母材部位的透射线I2的比值大大减小,从而使母材部位的散射线对焊缝部位的影响更严重,其结果是降低了对比度,因此,透照有焊冠焊缝时,焊缝部位的对比度不是单纯地随射线能量的降低而增大,而是在某一线质时,焊缝部位的底片对比度达到最大值。此线质称为有焊冠焊缝透照的最佳线质。
30 指出小口径管对接焊缝射线照相缺陷检出的不利因素,并提出改进措施。
答:小口径管焊缝射线照相采用双壁双影法透照,对缺陷检出的不利因素和改进措施有以下几点:(1)双壁双影法透照时,由于射源侧焊缝比胶片侧焊缝离开胶片的距离相差一个管子直径,故射线源尺寸的几何影响较大,使几何模糊度增加,小缺陷对比度降低,为减小射源尺寸对几何模糊度和对比度的影响,可选择焦点尺寸小的射线源,适当增大焦距。(2)透照小口径管时射线的穿透厚度自中心向两端变化很大,易导致底片上中心部位黑度过大,边缘部位黑度过小,为减少被检区域不同部位的黑度差,宜适当提高射线能量,采用“高电压,短时间”的透照工艺。(3)由于管子直径较小,散射线引起“边蚀”效应比较严重。相应的措施是在射线机窗口处加滤板,或采用铅罩屏蔽焊缝以外部分,以减少“边蚀”。(4)双壁双影透照时,焊缝被倾斜投影到胶片上,缺陷影像会发生畸变。为减少畸变,应控制透照角度和椭圆开口间距,间距一般为3~10mm,最大不超过15mm。
31 试述编写射线检测程序书所应包含的内容?
答:(1)工艺适用范围(试件种类、焊接方法和类型、厚度等)。(2)工艺编制依据(有关规程、规范、标准、设计规定等)。(3)对探伤人员要求(资格、工作经历、学历、视力等)。(4)设备器材选择(射线机、胶片、增感屏、透度计、暗盒、铅字等)。(5)对工件要求(工序、探伤时机、工件表面状况)。(6)探伤技术要求(质量等级、比例、部位、合格级别)。(7)透照方法(源-胶片相对位置、焦距、划线长度、编号方法、透度计、铅字摆放、散射线屏蔽等)。(8)曝光参数(管电压、管电流、曝光时间等)。(9)暗室处理(配方、程序、条件、要求等)。(10)底片评定(像质鉴定、级别评定、返修规定等)。(11)记录报告(种类、内容、签证、存档及发送规定等)。(12)安全管理规定。
32 散乱射线是怎样产生的?它对底片有何影响?透照时如何遮挡?
答:散乱射线是由射线与物质作用而产生的,如果来自工件内部,处于胶片前方,称为前方散射线,射线透过工件和胶片后打到地板、墙壁上等,均会产生散乱射线,由于它来自胶片背面,故称背面散乱射线(包括侧壁散乱射线);散乱射线使底片产生附加黑度,严重时全部变黑,影响底片的对比度和清晰度,降低底片的灵敏度;遮挡的方法有:采用限光器(准直器)或采用铅板在射线源侧遮挡胶片附近不需透照的部位,从而减少散乱射线对底片的影响;采用金属增感屏,前屏吸收一部分前方散乱射线,后屏减少背面散乱射线的影响;透照较厚工件时,暗盒后面用薄铅板(铅垫板)遮挡背面散乱射线;被透照工件周围尽可能保障有一定的空间,避免存放与透照无关的杂物以避免侧壁散乱射线影响。
33 在一些压力容器安全监察规程中规定对于厚度较大的焊缝在进行射线照相后还要求进行超声波检测复验,这是为什么?
答:各种非破坏检测方法都有其局限性,射线照像随着板厚的增加,发现小缺陷的能力就越来越差,特别是对于线状缺陷,例如轻微的未焊透(熔入不足)及小裂纹等难以发现,而超声波检测对于线状缺陷是敏感的,为提高检测可靠性,保证产品质量,特别是质量要求高的产品,超声波检测可以弥补射线照像检测的不足。
34 图示线路属于何种高压回路?多用于哪些射线机上?
答:这是半波自整流线路,多用于便携式X射线机上
35 射线探伤的组织管理工作主要包括哪几个方面?
[提示]①配备足够完成本单位探伤任务的人员,这些人员需经考试合格并取得资格证书;②配备足够完成本单位探伤任务的设备及器材,加强设备维护,保证设备完好;③制定必要的各项规章制度,如:检测程序书、设备维护、人员培训、检测报告、审核及存档制度等;④储备足够数量的探伤用消耗器材(胶片、增感屏、药品等),并认真验收保管好;⑤监督本单位全体人员各负其责,把好质量关。
36 最新的第二代75Seγ射线源有些什么特点?
答:是在反应堆中激活的具有热稳定性的金属硒化物,焦点呈准球形,和其他射源相比,在相同活度下其焦点尺寸更小,更适用于小焦距曝光、管道爬行器和接触式射线照相,影像几何不清晰度小,是γ射线透照中等厚度(5-40mm钢),获取较高影像质量的一种新型同位素射源,较铱192和钇169源的半衰期长(
118天),与铱192相比,其发射能谱较软,γ射线照射率常数较小,设定辐射防护禁区较小,对操作者安全等
37 画出曝光曲线的示意图,说明制作条件并简述其用途。
答:曝光曲线是给定X射线机在选定工艺条件下(包括胶片类型、增感方式、显影条件、焦距、底片黑度等)制作的,只有在给定的X射线机和相同的工艺条件下才能使用该曝光曲线。有了实际射线探伤工艺条件下的曝光曲线,在射线探伤时,对于不同厚度的工件就可以根据曝光曲线上的穿透厚度直接求得相应的管电压、管电流和曝光时间,这是非常经济、省时和方便的。
38 以玻壳X射线管为例说明其结构各部分名称及主要作用。
答:玻壳X射线管的内部构造主要包括七个部分,即:铅玻璃罩-保持X射线管内的真空度,吸收软射线;阳极罩-吸收二次电子和软射线;阳极体-支撑阳极靶和散热;阴极头-聚焦电子;灯丝-产生热电子;阳极靶-发射X射线;铍窗-吸收软射线
39 X射线管的种类中,有一种旋转式阳极,它是怎样的?
答:它的阳极是装在一个小的感应电动机轴上,在X射线照射时旋转,这样阳极时刻以“新的靶面”接受电子束的轰击,因此电子束的能量不至于像固定式阳极那样集中于一点,它可把热量散布在阳极的相当大的面积上。由于阳极转动的非常平稳,焦点可以保持形状和位置的稳定。用旋转阳极制成的X射线管不但可以得到很小的焦点,而且可以制成较大的功率,其阳极为一直径约76毫米具有斜边缘的钨盘构成,旋转速度可达到每分钟数千转。
40 X射线硬度对灵敏度有什么影响?
答:X射线的硬度决定于波长,波长越短,硬度越高。X射线检验的灵敏度主要取决于底片的对比度和清晰度,对比度越高,越容易发现缺陷,然而当其他条件固定时,缺陷在底片上的对比度完全取决于主因对比度:IA/IC=eμx(式中IA-透过缺陷处的射线强度;IC-透过缺陷附近材料的射线强度;e-自然对数的底,常数;μ-吸收系数;x-缺陷深度)当缺陷深度一定时,提高主因对比度的唯一途径是增大物质的吸收系数μ,由于μm=CZmλn(式中μm-质量吸收系数;C-常数;Z-物质的原子序数;λ-X射线波长,m和n一般取3),即质量吸收系数与被透物质原子序数的立方和入射X射线波长的立方成正比。当被透物质固定时,吸收系数仅决定于X射线波长。采用较低的管电压时可以得到波长较长的X射线,从而提高了主因对比度,亦即提高了灵敏度,因此在可能的条件下尽量采用较低的管电压,也就是较软的X射线,对提高灵敏度是有益的。
41 焦距对射线检验的灵敏度有何影响?
答:主要表现在四个方面:①焦距的大小会引起缺陷投影的畸变,焦距越小,缺陷投影畸变越大,因此从减小缺陷畸变考虑,选用较大焦距为好;②焦距的大小会引起零件沿射线方向厚度的变化,这是由于射线束成圆锥形扩散,引起零件边缘沿射线方向厚度增加,导致零件在底片上的黑度不均匀,用K表示边缘部位与中间部位沿射线方向的厚度比,即K值越大,零件中间部位与边缘部位沿射线方向的厚度差值越大,使底片黑度越不均匀,对射线检验灵敏度影响越大,选用较大的焦距可有效地减小K值(一般要求K值越小越好,最好不超过1.1),对灵敏度有利;③焦距大小对几何不清晰度的影响,几何不清晰度Ug的存在使缺陷边缘轮廓模糊,降低了底片的清晰度和缺陷对比度,因此焦距越大则Ug越小,检验灵敏度越高;④焦距大小对散射线的影响,焦距增大必然导致曝光量要增加,在管电流一定的情况下只能增加曝光时间,除了降低工作效率外,也会使得散射线作用时间增长而影响底片清晰度,降低了检验灵敏度。因此,从前三项而言,增大焦距对提高检验灵敏度有利,但从散射线影响的因素来说,提高焦距对灵敏度是不利的,故在确定焦距参数时应予以全面综合考虑,选择适宜的焦距。
42 什么是增感和增感系数?
答:增感即是增加胶片的感光量,从而可以相对地缩短对胶片的曝光时间。增感系数用于说明增感屏的作用程度,也称增感因素,它是在所有条件不变的情况下,使底片得到相同黑度时,不使用增感屏所需曝光时间t1与使用增感屏所需曝光时间t2之比:K=t1/t2,但是此增感系数K并不是一个固定不变的值,它随使用的X射线波长和所取底片黑度的不同而变化的。
43 什么是伪缺陷?简述底片上伪缺陷的来源。
[提示]:由于胶片本身质量、胶片保管、剪切、装取、暗室操作处理不当,以及操作者其他操作不慎等原因,在底片上留下可辨别的影像,但并非是被检验工件缺陷在底片上留下的影像,称之为伪缺陷。伪缺陷的来源包括机械损伤或表面附着物形成(如指纹、折痕、划伤、水印等),或者是由化学作用形成(如漏光、感光、药物玷污等),大致上可以分为来源于胶片本身的制造质量与储运、保管,来源于增感屏制造质量及损伤导致的增感不均匀或受过可见光线照射过的荧光增感屏的受激荧光影响等,来源于胶片裁切、包装、照相及冲洗过程中的漏光、手印、静电、划伤或局部折伤等;来源于暗室处理中的玷污、处理不均匀、水迹、指纹、气泡、药水老化失效、操作程序不当等等
44 什么是“照相灰雾(Photo graphic fog)”和“曝光灰雾(exposure fog)”?
[提示]:照相灰雾是由于乳剂和冲洗条件造成的灰雾,即是胶片固有灰雾与显影时的化学灰雾的总和;曝光灰雾则是由于胶片受到不需要的电离辐射或可见光波的曝光而造成的灰雾
45 就像质计金属丝底片对比度公式讨论提高对比度的主要途径,并说明通过这些途径提高底片对比度可能会带来什么缺点?
答:像质计金属丝底片对比度公式△D=
-0.434μpγσ&d/(1+n),提高对比度主要途径及由此带来的缺点:(1)增大μp值。在保证穿透力的前提下,尽量采用能量较低的射线,得这样会使曝光时间增加。(2)增大γ值。可选用γ值更高的微粒胶片;由于非增感型片胶片γ值和黑度成正比,也可通过提高底片黑度增大γ值。但高γ值的微粒胶片感光速度往往较慢,需要增大曝光时间,提高黑度也需要增加曝光时间,此外,黑度的提高会增大最小可见对比度△Dmin,对灵敏度产生不利影响。(3)提高σ值,可选择焦点尺寸小的射源,或增大焦距,这样做也会使曝光时间延长。(4)减少n值。要减小散射线,就要使用铅窗口和铅屏蔽,这些也将降低工作效率,使曝光时间延长。
以钢铁材料为例简述吸收系数μ的三个主分量τ、σ、χ在不同射线能量(从0-100MeV)时的分布规律,并用图示说明(答案从略)
简述射线照相时,最小可见对比度△Dmin的含义以及它与底片黑度的关系,对于金属线图像来说,在什么黑度范围内是可以识别的,并用图示加以说明(答案从略)
48 简述射线检验中除照相法外的任意三种其他方法的原理及适用范围(答案从略)
49 简述焊缝射线照相时,影响底片图像对比度的各种因素,为提高照相对比度,可采用哪些工艺措施?(答案从略)
50 简述暗室处理时,影响底片质量的主要因素以及因暗室处理不当造成底片质量问题的各种主要表现形式(答案从略)
51 试用射线的衰减规律解释射线照相法的基本原理,并简要分析提高射线照相质量的各种因素(答案从略)
52 何谓射线照相中的“宽容度”?在什么情况下需要提高照相的宽容度?这样会给它的照相质量参数带来什么影响?(答案从略)
53 试述焊缝射线照相时,降低散射、直射线强度比n的几种方法(答案从略)
54 对焊缝而言,采用射线照相法与超声波检验法各有什么优缺点?(答案从略)
底片黑度是影响射线照相质量的参数之一,试述黑度D与对比度△D和最小可见对比度△Dmin之间的关系,根据这一关系,应如何选定底片的黑度范围?并作图加以说明(答案从略)
γ射线探伤中最常用的几种放射源的名称、半衰期、γ射线能量、比活度范围、化学状态以及对钢铁工件的适用厚度范围是什么?(答案从略)
为什么散射线会降低射线照相的灵敏度?在焊缝射线照相中,加强高(余高)和母材区的散射比n的数值分布规律大致是怎样的?并以简图加以说明。在焊缝射线照相中可以用什么方法来减少散射比以提高图像质量?(答案从略)
射线探伤用的胶片一般是根据什么来进行分类的?各类胶片主要参数之间(如颗粒度、对比度、感光速度、清晰度)的相互关系是什么?(答案从略)
59 为什么适当提高观片灯亮度就可以扩大金属丝影像在底片上的可见黑度范围?并请作图加以说明(答案从略)
60 简述X射线照相法之外的任意四种射线检测缺陷方法的名称和应用范围(答案从略)
四. 计算题
1.将两块薄板并列在一起进行射线透照,设其中一块薄板材料质为A,厚度为TA,另一块材质为B,厚度为TB,若A、B的底片黑度分别为DA和DB,试证:
DA-DB=0.3GAB(TB/HB-TA/HA)
(HA,HB--A,B的半价层,GAB--胶片在DA和DB之间的平均梯度,又假定是单一波长Χ射线,且为薄板,散射线影响可忽略不计)
证:设无吸收体时的X射线强度为I0,透过厚度TA,TB后的X射线强度分别为IA,IB,则:
IA=I02(-TA/HA)--(1),
IB=I02(-TB/HB)--(2),(1)&(2)得:IA/IB=2[(TB/HB)-(TA/HA)]
lgIA-lgIB=[(TB/HB)-(TA/HA)](lg2)=0.3[(TB/HB)-(TA/HA)]--(3),∵GAB=(DA-DB)/(lgIA-lgIB)
∴DA-DB=GAB(lgIA-lgIB),代入(3)得:DA-DB=0.3GAB(TB/HB-TA/HA)
2.已知γ光子的波长λ为0.35A,求此波长下γ光子的能量为多少电子伏?
解:∵E=hν=hc/λ=12.395/λ ∴E=12.395/λ=12.395/0.35=35414.3ev
3.当阳极靶采用钨(Z=74),管电压为350KV,管电流10mA,求X射线的转换效率是多少?(η=1&10-9)
解:∴η=ηzv=1&10-9&74&.% ∴X射线的转换效率为2.59%
4.当X射线的最短波长是0.5埃,试求最大波长?
解:λmax=1.3λmin=1.3&0.5=0.65埃
5.在某管电压下产生的X射线穿过某物质其半值层为o.5cm,则它的十分之一值层是多少?
解:半值层0.5cm时,μ=(ln2)/0.5=1.39cm-1,十分之一值层时ln10=1.39X,
X=(ln10)/1.39=1.65cm
6.透过厚铝板的X射线窄射束的照射剂量率是400x10-7C/Kg,再透过20mm厚的铝板时,剂量率变为200x10-7C/Kg,那么再透过10mm厚的铝板时,剂量率为多少?
解:I1=I0e-μx1,200*10-7=400*10-7*e-2μ,μ=(ln2)/2,再按I2=I0e-μx2,这里
x2=20+10=30mm=3cm,代入各参数即可求得I2=141x10-7C/Kg
7.10个月前购进192Ir源,当时的射源强度为148x1010Bq,现在的强度为多少?(按每月30天计算)
解:192Ir源的半衰期为75天,则λ=0.693/T1/2=0.693/75,根据G=G0e-λt,t=10x30(天),代入得G≈9.25x1010Bq
8.已知透过观片灯窗口的光照度为50000lx,若透过底片的光强不少于50lx,则该观片灯能观察底片的最大黑度值为多少?
解:设L0=50000lx,L=50lx,则Dmax=lg(L0/L)=lg(
9.200kV时,铜相对钢的等效系数为1.4,对15mm铜板照相,需采用多厚钢的曝光量?
答案:20mm
10.以X光机(有效焦点尺寸3mm)检测厚度10mm的钢板,若要求几何模糊度Ug为0.5,则射源至底片的距离至少应为多少?答案:70mm
11.以相同的条件透照同一工件,若焦距缩短20%,则灵敏度稍有降低,而曝光时间可减少多少?答案:36%
12.用半衰期为75天的192Ir源在某时间对某工件透照时的最佳曝光时间为40分钟;5个月后,用该源对同一工件透照,为得到同样黑度的射线底片,曝光时间应为多少?
答案:2小时40分钟
13.用铅箔增感,焦距1200mm,曝光时间8分钟,得黑度1.5,现焦距改为600mm,为使黑度不变,曝光时间应为多少?答案:2分钟
14.已知入射光强200Cd/m2,则底片黑度为2.3的区域透过的光强为多少?答案:1Cd/m2
15.用60Co源透照某一零件,曝光时间为10分钟,焦距为600毫米,若将焦距变为300毫米,为得到同样黑度的底片,其曝光时间应为多少?答案:2.5分钟
16.220千伏时,钢和铜的射线透照等效系数分别为1.0和1.4,此时对20毫米厚的铜板进行射线透照时,需采用钢曝光参数的厚度为多少?答案:28毫米
17.强度为30居里的铱192射源,应用多厚的铅板使其照射率降为0.2R/h以下?(注:192Ir的r.h.m/Ci为0.55,对铅的半值层为0.12cm)答案:8mm
18.铱192的强度为80Ci,射线照相时射源至底片距离50cm,底片黑度2.0,现射源衰退至20Ci,要以同样的照相时间的到同样的结果,则射源至底片的距离应为多少?答案:25cm
19.铱192射源强度为50Ci,欲照射2英寸厚度的钢板时曝光系数为0.95,如射源至底片距离25英寸,则曝光时间应为多少?答案:11.9分钟
20.192Ir对铅的半值层厚度为0.12cm,若射线剂量需由40mR/h降低为2.5mR/h,则需要的铅屏蔽厚度是多少?答案:0.48cm
21.铅对铱192的半值层为1.2mm,铱192的r.h.m/Ci为0.55,假设现有一个50居里的铱192源,距射源10米时,要使剂量率降至10mR/h,需要多厚的铅板屏蔽?答案:5.7mm
22.某γ放射源的衰变常数λ=0.021/年,则其半衰期为多少?答案:33年
23.管电压为2000KV的X射线管发出的X射线最短波长是多少?
答案:λmin=1.24/62mm
24.观片灯的入射光强度为500 lx时,观察黑度为0.7的X射线底片,则透过底片的光强度为多少?答案:100 lx
25.192Ir的γ射线通过水泥墙后,照射率衰减到200mR/h,为使照射率衰减到10mR/h以下,至少还应复盖多厚的铅板?(HPb=0.5mm)答案:21.5mm
26.采用4.5x4.5mm方形有效焦点的X光机透照厚度100mm的工件,当焦距为1000mm时,其“几何不清晰度”是多少?0.5mm
27.距离射线源1米处的吸收当量剂量率为472.5毫雷姆/小时,设射线人员在不超过2.1毫雷姆/小时的情况下,应距射线源多远?答案:15m
28.用60Coγ射线源,焦距900mm进行透照,曝光时间为12分钟时可获得黑度满意的射线照相底片,如将焦距变为800mm,要得到同样黑度的底片,则曝光时间应为多少?
答案:9.5分钟
29.用某种胶片透照工件,当管电流和曝光时间的乘积为10mA&min时,底片黑度为1.0,如果其他条件不变,要将黑度提高到2.5,求所需曝光量为多少?(由胶片特性曲线查得黑度为2.5和1.0时所对应的曝光量对数差为1)
解:已知E1=10mA&min,D1=1.0,D2=2.5,lgE2-lgE1=1,求E2=?lgE2-lgE1=lg(E2/E1)=1,E2=10E1=10x10=100mA&min
30.设有一辐射单一波长γ射线的同位素源,某时在离射源200cm处测得其照射率,14天后同一时刻在离射源192cm处测出其照射率与前同,问此射源半衰期为多少天?
解:设此同位素原来的原子核数为N0,14天后同一时刻的原子核数为N,则由衰减律公式
N=N0e-14λ--(1),式中:λ--衰变常数,又设I1和I2分别为距N0 200cm处和距N
200cm处的放射强度,设I3为距N 192cm处的放射强度,则按题意有I1=I3 --(2)
I2/I3=(192/200)2 --(3) I2/I1= N/N0--(4),由(1)~(4)式得:
e-14λ= N/N0 =I2/I1=I2/I3=(192/200)2& e
-7λ=0.96& (-7λ)=ln0.96
λ=0.00583& ∴T1/2=0.693/λ=0.693/0.0d
31.对管电压和管电流都保持不变的某一个曝光量,当焦距从1200mm改为900mm时,曝光时间必须从原来的8分钟变为多少分钟?答:4.5分钟
32.某台X光机的阳极靶为钨(原子序数Z=74),测得其最短波长为0.045
,求在极限波长下的管电压为多少?X射线的转换效率是多少?(计算精确到小数点后两位)
解:比例系数α=1.2*10-6/千伏,由λ=12.4/V(千伏)得到V=12.4/λ=12.4/0.045 =276(KV)
由η=VZα=276(千伏)*74*(1.2*10-6/千伏)=0.%
33.今摄得黑度分别为2.1和2.9的两张底片,按同一条件进行观察,观片时若透过光以外的环境光强与透过黑度为2.9的底片后的光强相同,则同一直径的象质计金属丝在黑度2.9的底片上可见对比度是黑度2.1的底片上可见对比度的几倍?(设黑度在1.2~3.5范围内,△D与D成正比。)
解:设照射光强为L0的观片灯在透过底片黑度2.1和2.9部分后的光强分别为L1和L2,
则 2.1=lg(L0/L1)--(1)&
2.9=lg(L0/L2)--(2),(2)-(1)
0.8=lgL0-lgL2-lgL0+lgL1=lg(L1/L2)&&
L1/L2≈6.3&& L2/L1≈0.16--(3)
又设环境光强为Ls,则底片可见对比度△Da=△D/(1+n')=△D/[1+(Ls/L)]--(4),
按题意,△D∝D,即△D=C&D (C--常数)
代入(4)式得:△Da=C&D/[1+(Ls/L)]--(5),
设同一直径的像质计金属丝在黑度为2.1和2.9的底片上可见对比度分别为△Da1和△Da2,则:△Da1=C&D1/[1+(Ls/L1)]--(6)&&
△Da2=C&D2/[1+(Ls/L2)]--(7), (7)&(6),得:
△Da2/△Da1=D2[1+(Ls/L1)]/D1[1+(Ls/L2)],已知:Ls=L2
∴△Da2/△Da1=D2[1+(L2/L1)]/D1[1+(L2/L2)]=2.9(1+0.16)/2.1(1+1)=0.8(倍)
34.已知原有铅防护层厚度6mm,现如改用密度为1.9g/cm3的砖,需多厚?
解:t砖=ρ铅t铅/ρ砖=11.3x6/1.9≈36mm
35.被检工件厚度δ=12mm,要求Ug不大于0.5mm,已知X射线管的焦点尺寸为
2.5x2.5mm2,求最小焦距。解:f=(δd/Ug)+δ=(12x2.5/0.5)+12=72mm
36.某放射性同位素对某钢材的半值层为1.5cm,求钢材的吸收系数μ=?
解:μ=0.693/h=0.693/1.5=0.462cm-1
37.铯137伽玛源的半衰期为33年,求其蜕变常数λ是多少?解:λ=0.693/33=0.021 la-1
38.γ射线束的能量为1MeV,用铅作屏蔽材料,欲使γ射线束的强度减弱到原始值的1/32,需要几个半值层厚度?解:I0/I=32=2n,n=ln32/ln2=5
39.被透照工件厚度δ=22mm,已知X光管的有效焦点d=0.8mm,选用焦距f=600mm,求该底片的最大几何不清晰度是多少?解:Ug=(dδ)/(f-δ)=(0.8x22)/(600-22)≈0.03mm
40.透照某厚度30毫米厚的工件,选用焦点为φ4毫米的X射线机,若要求几何不清晰度不超过0.2毫米时,问:此时选用的最小焦距是多少?
解:Fmin=(dδ/Ug)+δ=(4*30/0.2)+30=630毫米
41.被透焊缝的母材厚度22毫米,焊冠高度2毫米,X射线机的焦点2.5*2.5毫米,焦距选用600毫米,问:此时的几何不清晰度为多少?
解:Ug=dδ/(F-δ)=2.5(22+2)/[600-(22+2)]=60/576≈0.1毫米
42.已知某物质在被某能量射线透照时,其吸收系数为0.39cm-1,求其半度厚(半值层)为多少?解:d1/2=0.693/μ=0.693/0.39≈1.78cm
43.被检工件δ=30mm,选用焦距f=650mm,要求Ug不大于0.5mm,则对X光管的焦点大小有什么要求?
解:∵Ug=d&δ/(f-δ) ∴d=Ug[(f-δ)/δ] ∴d=0.5&(650-30)/30=10.3mm
答:焦点尺寸应小于等于10.3mm
44.已知X射线的最短波长为0.15 ,求管电压应为多少才合适?
解:∵λmin=12.395/kv ∴kv=12.395/λ=12.393/0.15=82.62(KV)
45.管电压为250kVp时,辐射的连续X射线最短波长为多少?若波长为最短波长1.5倍时,连续X射线强度达到最大值,则强度最大时的连续X射线光子能量为多少?
解:λ0=12.4/KV=12.4/250=0.0496
ε=12.4/1.5λ0=12.4/(0.)≈167keV
46.求管电压为320KV的X射线机和加速能量为4MeV的电子直线加速器辐射的连续X射线的效率(设靶材料均为钨Z=74,比例系数η0=1.2&10-6)
解:η1=η0ZV=1.2&10-6&74&320=2.84%&
η2=η0ZV=1.2&10-6&74&%
47.透过厚钢板后的窄束X射线再透过屏蔽好的16mm厚的钢板,若透射线照射率为透过16mm钢板前的1/16,则钢对该X射线的半价层和吸收系数各为多少?
解:设透过16mm钢板前后的照射率分另别为I0和I,则:I/I0=(1/2)n&
n=4& ∵nH=16&
∴H=16/n=16/4=4mm=0.4cm&
μ=0.693/H=0.693/0.4=1.7325cm-1
48.已知入射光强是透过光强的20倍,试求底片的黑度D=?解:∵D=lg(i0/I)∴D=lg20=1.3
49.用某一线质的X射线测得Al和Cu的线吸收系数分别为0.24cm-1和1.7cm-1,已知Al、Cu及含Al90%,含Cu10%合金的密度分别为2.70、8.94和2.93g/cm3,试求用质量百分率表示的Al90%,Cu10%的合金对此X射线的线吸收系数
解:设合金密度为ρa,吸收系数为μa,如合金元素的质量吸收系数分别为μ1/ρ1和μ2/ρ2,
重量百分比分别为P1和P2,则
μa=ρa[(μ1/ρ1)(P1/100)+(μ2/ρ2)(P2/100)]
=2.93*[(0.24/2.7)(90/100)+(1.7/8.94)(10/100)]=0.29cm-1
50.被透照工件厚度δ=60mm,已知X光管的焦点为d=3mm,选用焦距为650mm,试求最大半影宽度(即几何不清晰度)?解:Ug=d&δ/(f-δ)=3&60/(650-60)≈0.3mm
51.用某一管电压的Χ射线穿透某种材质的板,得到下图,图A所示的吸收曲线(衰减曲线):纵轴表示Χ射线强度的常用对数,曲线1是用窄束Χ射线作出的,不包含散射线,曲线2是相当于某一透照布置的宽束Χ射线吸收曲线,图B是使用Χ光胶片特性曲线的一部分,试按图A、B求出以下各参数:
⑴半值层(第一半价层)是多少?
⑵透过厚3cm板时的平均线吸收系数μ是多少?
⑶透过厚3cm板后Χ射线相当于一定薄层的线吸收系数μ是多少?
⑷按要求曲线2的条件,对透过厚3cm板后的Χ射线来说,散射线与直接透射线的强度之比n是多少?
⑸黑度1.5和2.5之间的平均梯度是多少?
⑹黑度2.5时的梯度是多少?
⑺按要求曲线2的透照布置,用具有图B特性的胶片,透照厚3cm的板,得底片黑度为2.5,如射源尺寸比缺陷小得多,则厚1mm的缺陷(空隙)在底片上,黑度差△D是多少?
⑻在⑺的计算中所涉及到的⑴ ⑹中的参数为哪些?
解:按原理,说明线质或测定μ和半值层时,必须用曲线1所示用窄束Χ射线求得的衰减曲线。
(1)半值层Η,在图A中是指X射线强度I=I0/2时的厚度,由图A知lg(I0/2)=lgI0-lg2=2-0.3=1.7&
故由曲线1得 H1=0.35cm
(2)图A中穿透厚度3cm之间的平均吸收系数
,即曲线1中连接板厚0cm点和3cm点的直线所表示的吸收曲线的线吸收系数,此吸收曲线可用下式表示:
I=I0e-μx&&
I/I0=e-μx&& lg(I/I0)= -0.434
=(2.3/x)(lgI0-lgI),这里,x=3cm,
lgI0=lg100=2,又由图1,x=3cm时,lgI=0.3&&
∴ =(2.3/3)(2-0.3)≈1.3cm-1
(3)透过厚度3cm板厚的Χ射线相对于薄层的线吸收系数μ,是指具有与曲线1上厚度3cm处切线相同斜率的吸收曲线的线吸收系数,设透过厚3cm时的Χ射线强度为Is,再透过薄层△x的Χ射线强度为I3,则:I"3=Is&e-μ△X&&
I'3/I3=e-μ△X
lg(I'3/I3)= -0.434μ△X&&
μ=(2.3/△X)(lgI3-lgI'3),令(lgI'3-lgI3)=lg△I,则μ=
-2.3(△lgI/△X),在图1中,(△lgI/△X)表示厚度3cm处的切线斜率,即
(△lgI/△X)=(0.2-0.3)/(3.25-3)= -0.4,∴μ=(-2.3)(-0.4)=0.92cm-1
(4)设宽束X射线强度为IB,直接透射线强度为ID,散射线强度为Is,则IB=ID+Is=ID(1+n),式中n为散射线与透射线强度之比,由图A,
lg(IB/ID)=lgIB-lgID=0.9-0.3=0.6,∴(IB/ID)=4,n=(IB/ID)-1=4-1=3
(5)设黑度1.5所对应的曝光量为E1.5,黑度2.5所对应的曝光量为E2.5,则两黑度之间的平均梯度&
=(2.5-1.5)/(lgE2.5-lgE1.5),由图B知 lgE2.5=0.59,lgE1.5=0.25,
∴ =(2.5-1.5)/(0.59-0.25)=2.94
(6)可用平均值定理求取某一黑度O处切线的斜率,设与黑度2.5-0.1和2.5+0.1,相应的曝光量分别为E1和E2,则
G2.5=[(2.5+0.1)-(2.5-0.1)]/(lgE2-lgE1)=0.2/(0.62-0.57)=4
(7)由厚度差△T产生的底片黑度差由下式给出:△D=
-0.434GD&μσ△T/(1+n),在求曲线2的透照布置中,GD=4.0,μ=0.92cm-1,σ≈1,△T=
-0.1cm,n=3.0,
∴△D= -0.434x4x0.92x(-0.1)/(1+3)=0.04
(8)用上述(3)、(4)、(6)中的3个参数,即μ=0.92cm-1,n=

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