现在椭偏仪 相位 精度的测量精度是多少

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随时随地聊科研怎么调整SENTECH SE400adv 椭偏仪使之测量准确
　　提问：　　SENTECHSE400adv椭偏仪校准时测得膜厚偏高折射率偏低，我们做的是多晶硅电池，现在我该怎么调整呢。　　网友解答：　　调节测试台高度，查看设置的测量漠视对么，单膜和双膜有细微差别。要是每次测量误差都一样，那么可以使用，要是每次测量误差不同，则不可用。　　本贴根据solarzoom论坛帖子整理，不代表solarzoom的观点。如有疑问欢迎加入交流讨论。　　原帖地址：
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斯托克斯椭偏仪仪器矩阵的条件数评价研究
【摘要】：斯托克斯椭偏仪一般使用定标的方法来测量其仪器矩阵,其仪器矩阵的优劣直接影响了被测光线斯托克斯参量的精确度与稳定度,从而影响了被测薄膜的厚度、折射率及消光系数等光学参数的精确度与稳定度。文章以椭偏参数总偏差为评价函数,分析了条件数大小与斯托克斯椭偏仪仪器矩阵的优劣关系,并从实验上证明了条件数较大时,仪器矩阵较差,测量结果偏差大;条件数较小时,仪器矩阵较优,测量结果较佳。
【作者单位】：
【关键词】：
【基金】：
【分类号】：TB383.2【正文快照】：
0引言椭偏仪[1]是一种测量纳米量级薄膜的重要工具,由于其具有非破坏性、非接触性、测量精度高、测量速度快、薄膜测量范围广泛等优点而日渐成为薄膜的研究热点[2]。斯托克斯椭偏仪[3]由于其具备可实时测量薄膜样品的能力,近年来一直是椭偏仪领域的研究热点[4]。椭偏仪一般使
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