原发布者:积极乐观126
称DOS）在DOS结果图裏可
还是半导体请问怎么看
论是什么？或者哪位老师可以告诉我这方面的知识可以通过学习什么获得不胜感激。查看是导体还是绝缘體还是半导体最好还是用能带图DOS的话看费米能级两侧的能量差谢希德。复旦版的《固体能带论》一书中有请参阅！另外到网上或者学校的数据库找找“第一性原理”方面的论文，里面通常会有一些计算分析下面有一篇可以下载的：ZnO的第一性原理计算hoffman的《固体与表面》對态密度与状态有关吗的理解还是很有好处的。下面这个是在版里找的多看看吧：如何分析第一原理的计算结果 用第一原理计算软件开展的工作，分析结果主要是从以下三个方面进行定性/定量的讨论： 1、电荷密度与状态有关吗图（chargedensity）； 2、能带结构（EnergyBandStructure）； 3、态密度与状态有關吗（DensityofStates简称DOS）。 电荷密度与状态有关吗图是以图的形式出现在文章中非常直观，因此对于一般的入门级研究人员来讲不会有任何的疑問唯一需要注意的就是这种分析的种种衍生形式，比如差分电荷密图（def-ormationchargedensity）和二次差分图（differencechargedensity）等等加自旋极化的工作还可能有自旋极化電荷密度与状态有关吗图（spin-polarizedchargedensity）。所谓“差分”是指原子组成体系（团簇）之后电荷的重新分布“二次”是指同一个体系化学成分或者几哬构型改变之后电荷的重新分布，因此通过
化引起的特性而应该用态密度与状态有关吗来解释。
原则上讲态密度与状态有关吗可以作為能带结构的一个可视化结果。很多分析和能带的分析结果可以一一对应很多术语也和能带分析相通。但是因为它更直观因此在结果討论中用得比能带分析更广泛一些。
在电子能级为准连续分布的情况下单位能量间隔内的电子态数目。若用△Z表示能量在E与E+△E间隔内的電子态数目则能态密度与状态有关吗函数的定义为 N(E，那么 (l) 如果在k空间中作出等能面即E(k)~常数，那么在等能面E(k)一E和E(k)一E+△E之间的状态的数目僦是△Z由于状态在h空间分布是均匀的，密度与状态有关吗为 V/(2刃)“△Z可以表示为 一命jusdk (2) 式中V为晶体体积，ds为k空间中体积元积分对等 能面進行，dk为两等能面间的垂直距离△E可以表示 为 △E=dk}?kE}(3) }甲、引是沿法线方向能量的改变率，代入式(2)和(1) 并考虑到电子自旋，最后可能 N(E)= (4) 由上式可知在相应于}甲*川为零的点的能量附近，态 密度与状态有关吗会显示出结构这些由于晶体的对称性和周期性而 必定存在的点，称为范霍甫奇点在范霍甫奇点处的那 些态的能量，可通过光学或X射线方法测量确定 能态密度与状态有关吗与能带结构密切相关，是一个重要的基本 函数固体的许多特性，如电子比热、光和X射线的 吸收和发射等都与能态密度与状态有关吗有关。
