探測系统包含四部分:测头测头扩展部,探针调整或扩展部探针。
可用的测头类型包括铰接非铰接以及手动或机动。手动铰接测头需偠使用者的干预这样需要在结合点处暂停部件程序,进而会增加计算机直接控制的测量时间并影响测量的精确度。测头的选择应该考慮目标精确度
测头扩展部的选择取决于所需要的测量类型,测量精度所使用的探针的质量和长度和探针连接部位的刚度。测头扩展部位于测头和接触触发器之间
探针扩展和适配器可以使测量帮助测头探测难以到达的地方。所用的部件包括转向节五路探针中心,简单擴展以及可以允许探针连接不同螺纹尺寸的M3/M2和M5/M4适配器必须注意的是如果所使用的探针比螺纹尺寸小会导致探针的刚度不足降低测量精度。使用比测头螺纹尺寸大的探针容易引起触头的错误触发
对于探针的选择主要需要考虑两点,即满足探针接触的要求对于工件上所有點的测量没有干涉,在接触点保持可重复性
CORE-DS光学高速多轴测量系统是专为叶片测量量身定制的最佳解决方案。CORE-DS光学高速多轴测量系统使用新一代白光测头取代了传统接触式測头克服了接触式测头在测量叶片时的固有弱点,为叶片测量技术开拓出一片全新领域CORE-DS系统使用的光学测头应用了创新的白光点光源進行数据采集,直径小至9um的光点可以检测到零件表面最细小的几何特征光学测头的应用也完全避免了接触式测头容易产生的半径补偿错誤。
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