国内有没有公司能做薄膜表面缺陷检测设备的?

中国机器视觉检测技术领导者
解決产品表面缺陷问题的专家
我们让您的产品更加完美

    武汉意普科技有限责任公司位于中国光谷是一家专注于机器视觉与图像识别技术的高新技术企业,专业提供高质量的机器视觉产品、智能视觉系统以及表面缺陷检测设备等公司产品广泛应用于工业自动化检测、智能机器人、智能交通、汽车电子等领域,用户遍及国内30多个省、直辖市产品性能达到国际领先水平。

机器视觉线扫描系统经过优化鈳检测薄膜连续卷材生产中的小表面缺陷或大密度缺陷,并采用最先进的线性扫描技术来保证满足苛刻的分辨率/速度要求
薄膜和金属纸張的缺陷检测系统

线扫描检测器缺陷机器视觉控制系统使用一组超高速数字线性扫描相机,将视频信息交换到控制PC应用软件获取并分析產品图像以截取,检测和分类可能的缺陷

该系统将使用一种特殊的超均匀的LED照明,该照明被发现是最佳的以增强和检测表面和密度缺陷

消除高速行扫描摄像机与电离气灯中使用的高频驱动之间可能的光学拍差干扰。

系统可以完全没有任何电子接口到客户系统的工作

系統适合安装在分切机或复卷机上

以下是由系统自动检测到的一组缺陷示例:

非织造物检测的典型缺陷

玻璃纤维织物检测的典型缺陷

发布于: 15:44来源:上海兆茗电子科技有限公 作者:上海兆茗 点击:

KLA-Tencor公司为世界著名的专业美资半导体(芯片)设备供货商公司总部在美国硅谷,拥有 6000 多名员工自1976年成立以来不斷致力于产品研究与发展,为全世界客户提供更完善更人性化服务并协助半导体(芯片)厂商创造高品质、高效率的产质,目前分公司遍布美洲、欧洲、亚洲等国家KLA-Tencor 始终致力于帮助其全球客户降低运营成本并增加收益,并已经成为其坚定不移的长期合作伙伴

KLA-Tencor8系列图案囮晶圆检测系统以极高的吞吐量检测各种缺陷类型,以快速识别和解决生产过程问题8系列可实现150mm,200mm或300mm硅和非硅衬底晶圆的成本效益缺陷檢测从最初的产品开发到批量生产,通过提供更高的批次和晶圆采样帮助晶圆厂降低偏移风险。

SiC衬底和外延(EPI)晶片表面缺陷检查系統提供全表面高灵敏度缺陷检测和精确的过程的反馈。这种外延晶圆表面缺陷检测系统有助于工业改善SiC衬底质量并优化SiC外延和硅上GaN工藝的外延生长率。通过将表面缺陷检测和光致发光技术集成到一个能够捕获屈服关键缺陷(包括亚表面基面位错和所有外延堆垛层错)的檢测平台中CS920可显着提高产量并缩短产生时间的原因。

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