如何用OCC电路实现at-at a speed of测试

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2016-09-11 07:34 标签： at a high speed
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高速芯片设计中的全速度AtSpeed测试
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FT 测试 at-speed scan fail
[i=s] 本帖最后由 dzkxybx 于
10:50 编辑
请问有大神指导，这种情况，应该往哪些方面去查原因么？
后仿是at-speed，low-speed都过的，不管是Internal-Scan还是Compressed-Scan，谢谢！
问题更新：
现在只测试low-speed, internal-scan.发现测试频率要降到很低才能过：目标30MHz fail，100KHz的时候部分芯片能过，30KHz的时候才能稳定的pass。各位大神帮忙看看可能哪个环节会出问题。
根据目前的信息，个人感觉也不太像timing的问题，正常timing问题，不需要降这么夸张吧？

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